[發(fā)明專利]用于流量計的校驗診斷的儀表電子器件和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010173756.8
• 申請日: 2005-09-19
• 公開（公告）號: CN101819056A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: M·J·倫興;A·T·佩藤;T·J·坎寧安;M·J·貝爾
• 申請（專利權(quán)）人: 微動公司
• 主分類號: G01F25/00
• 分類號: G01F25/00;G01M19/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 王小衡;王忠忠

1.用于流量計(5)的儀表電子器件(20)，該儀表電子器件(20) 包括用于接收來自流量計(5)的三個或更多個振動響應(yīng)的接口(201)， 其中該三個或更多個振動響應(yīng)包括基本基頻響應(yīng)和兩個或更多個非 基頻響應(yīng)；以及與接口(201)通信的處理系統(tǒng)(203)，其中該儀表 電子器件(20)進(jìn)一步包括：

處理系統(tǒng)(203)被布置成接收來自接口(201)的該三個或更多 個振動響應(yīng)，從該三個或更多個振動響應(yīng)產(chǎn)生一階或更高階極點-殘 數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)，并從該一階或更高階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)確定 至少剛度參數(shù)K。

2.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中處理系統(tǒng)(203)被 進(jìn)一步布置成從該一階或更高階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)確定阻尼參 數(shù)C。

3.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中處理系統(tǒng)(203)被 進(jìn)一步布置成從該一階或更高階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)確定質(zhì)量參 數(shù)M。

4.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中處理系統(tǒng)(203)被 進(jìn)一步布置成從該一階或更高階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)計算極點 λ，左殘數(shù)R_L和右殘數(shù)R_R。

5.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該三個或更多個振 動響應(yīng)包括高于基頻響應(yīng)的至少一個音調(diào)和低于基頻響應(yīng)的至少一 個音調(diào)。

6.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該三個或更多個振 動響應(yīng)包括高于基頻響應(yīng)的至少兩個音調(diào)和低于基頻響應(yīng)的至少兩 個音調(diào)。

7.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該一階或更高階極 點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括一階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)。

8.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該一階或更高階極 點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括一階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)，該一階極點 -殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括其中R項 包括殘數(shù)，λ項包括極點并且ω項包括圓形激勵頻率。

9.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該一階或更高階極 點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括一階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)，該一階極點 -殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括并且其中 依據(jù)等式M＝1/2jRω_d，K＝(ω_n)²M和C＝2ζω_nM確定剛度參數(shù)K，阻尼 參數(shù)C和質(zhì)量參數(shù)M，其中M項包括質(zhì)量參數(shù)，ζ項包括衰減特性， ω_n項包括固有頻率，并且ω_d項包括阻尼固有頻率。

10.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該一階或更高階極 點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括二階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)。

11.權(quán)利要求1的儀表電子器件(20)，其中該一階或更高階極 點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括二階極點-殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)，該二階極點 -殘數(shù)頻率響應(yīng)函數(shù)包括其中M項 包括質(zhì)量參數(shù)，C項包括阻尼參數(shù)，K項包括剛度參數(shù)，并且ω項包 括圓形激勵頻率。