[發明專利]一種快速X射線熒光CT方法有效
| 申請號： | 201010171983.7 | 申請日： | 2010-05-12 |
| 公開（公告）號： | CN101862200A | 公開（公告）日： | 2010-10-20 |
| 發明（設計）人： | 鄧彪;楊群;謝紅蘭;杜國浩;肖體喬 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海應用物理研究所 |
| 主分類號： | A61B6/03 | 分類號： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 鄧琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 快速 射線 熒光 ct 方法 | ||
1.一種快速X射線熒光CT方法，包括：
(1)將單色光照射到樣品上，所述樣品被平移和轉動，同時被激發出特征X射線熒光；
(2)利用熒光探測器采集所述X射線熒光，得到X射線熒光能譜；
(3)解析所述X射線熒光能譜，得到X射線熒光CT的投影數據；
(4)利用X射線強度探測器采集所述樣品的透射CT的投影數據；
(5)根據所述X射線熒光CT的投影數據和所述透射CT的投影數據，重構出所述樣品的元素分布圖像；
其特征在于，所述的單色光的光斑直徑大于所述樣品的寬度；所述的熒光探測器是加裝鉛準直器的陣列熒光探測器。
2.如權利要求1所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述平移是將所述樣品沿所述單色光的入射方向平移一次，所述平移的距離為所述鉛準直器的壁厚。
3.如權利要求2所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述轉動是將所述樣品繞垂直于所述單色光的入射方向的軸每次旋轉1°，直至在整個180°圓周上掃描一遍。
4.如權利要求1所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述的熒光探測器是64×64或32×32元陣列熒光探測器。
5.如權利要求1所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述的陣列熒光探測器采集垂直于所述單色光的入射方向的所述鉛準直器區域內的所有X射線熒光。
6.如權利要求1所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述透射CT的投影數據進一步包括各熒光能量段的透射CT的投影數據，計算所述樣品對熒光X射線的吸收系數，修正X射線自吸收。
7.如權利要求6所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述的修正X射線自吸收是沿進入鉛準直器的線方向進行。
8.如權利要求1所述的快速X射線熒光CT方法，其特征在于，所述的元素分布圖像的分辨率由所述鉛準直器的水平開口決定。
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