[發明專利]用于物品破壞裝置的過載故障狀態檢測系統無效
| 申請號: | 201010171141.1 | 申請日: | 2010-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN101895092A | 公開(公告)日: | 2010-11-24 |
| 發明(設計)人: | J·戴維斯;J·杰森;李志國;任華 | 申請(專利權)人: | 創科地板護理技術有限公司 |
| 主分類號: | H02H7/08 | 分類號: | H02H7/08;H02H5/04;G01R31/34;B02C23/04 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 鄔少俊;王英 |
| 地址: | 英屬維爾京*** | 國省代碼: | 維爾京群島;VG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 物品 破壞 裝置 過載 故障 狀態 檢測 系統 | ||
1.一種物品破壞裝置,包括:
至少一個與相關聯的物品接觸并且使所述相關聯的物品變形的移動部件18;
驅動所述至少一個移動部件18的電動機16;
容納所述至少一個移動部件18和所述電動機16的頭部組件14;以及
顯示于所述頭部組件14上并且包括依次設置的至少兩個可視指示器30的指示面板,每一可視指示器與接近狀態的一個階段相關聯;
其中,所監控的狀態是接近電機冷卻的時間段,并且所述階段與所述電機16的溫度相關聯。
2.如權利要求1所述的物品破壞裝置,還包括至少三個可視指示器30;
其中,所述至少三個可視指示器30中的第一可視指示器30a在所述溫度低于第一閾值時發光;
其中,所述至少三個可視指示器30中的至少第二可視指示器30b在所述溫度超過所述第一閾值并且低于至少第二閾值時發光;以及,
其中,所述至少三個可視指示器30中的最后一個可視指示器30f在所述溫度超過所述第一閾值和所述至少第二閾值時發光,所述第一閾值和第二閾值中的每一個等于預定的溫度。
3.如權利要求1或2所述的物品破壞裝置,還包括:
所述電機16上的負溫度系數傳感器52,用于執行針對至少第一預定溫度的溫度檢測;以及
所述電機16上的熱斷路傳感器60,用于執行針對至少第二預定溫度的過熱檢測。
4.如權利要求3所述的物品破壞裝置,其中,當達到所述至少第一預定溫度并且未達到所述至少第二預定溫度時,所述熱斷路傳感器60執行過熱檢測。
5.如權利要求3或4所述的物品破壞裝置,其中,所述熱斷路傳感器60包括開關,所述開關在達到所述至少第二預定溫度的情況下所述電機16斷電。
6.如前述權利要求中任一項所述的物品破壞裝置,還包括連接至所述電機16的熱敏電阻器52;
其中,當所述熱敏電阻器的恒溫開關64閉合時,所述至少三個可視指示器30中的所述第一可視指示器發光;
其中,當所述恒溫開關64操作打開時,所述至少三個可視指示器30中的所述至少第二可視指示器發光;
其中,當所述開關64打開時,所述至少三個可視指示器30中的所述最后一個可視指示器發光。
7.如前述權利要求中任一項所述的物品破壞裝置,其中,所述電機16還包括:
通過恒溫開關64連接在一對端子兩端的起始繞組66;以及,
連接在所述一對端子兩端的主繞組68。
8.如前述權利要求中任一項所述的物品破壞裝置,其中,所述第一預定閾值是工作溫度,并且所述至少第二預定閾值是平衡態溫度。
9.如權利要求2至8所述的物品破壞裝置,其中,在所述熱敏電阻器52從較低的第一溫度升至工作溫度的第一階段期間,所述至少三個可視指示器30中的所述第一可視指示器30a發光,其中,在所述熱敏電阻器52從所述工作溫度加熱至所述平衡態溫度的第二階段期間,所述至少三個可視指示器30中的所述至少第二可視指示器30b發光;并且其中,在所述熱敏電阻器52從所述平衡態溫度冷卻至所述較低的第一溫度的第三階段期間,所述至少三個可視指示器30中的所述最后一個可視指示器30f發光。
10.如權利要求7至9所述的物品破壞裝置,其中,在所述第一階段期間,電流流經所述起始繞組66和所述主繞組68兩者;其中,在所述第二階段期間,電流僅流經所述主繞組68;并且其中,在所述第三階段期間,沒有電流流經所述起始繞組66或所述主繞組68。
11.如權利要求6至10所述的物品破壞裝置,其中,在電壓連接至所述電機16的第一階段期間,通過所述電機16所述熱敏電阻器52通電;其中,在所述第二階段所述熱敏電阻器52保持通電,所述熱敏電阻器52在所述第二階段期間持續加熱到所述平衡態溫度,只要所述電壓被施加至所述電機16,所述熱敏電阻器52就保持在所述平衡態溫度。
12.如權利要求6至11所述的物品破壞裝置,其中,所述熱敏電阻器52選自由速動恒溫開關和熱敏電阻器52控制的半導體電流開關裝置構成的組。
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