[發明專利]物鏡、光拾取裝置及光信息記錄再生裝置有效
| 申請號: | 201010170114.2 | 申請日: | 2010-05-04 |
| 公開(公告)號: | CN101901607A | 公開(公告)日: | 2010-12-01 |
| 發明(設計)人: | 中村健太郎 | 申請(專利權)人: | 柯尼卡美能達精密光學株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/135 | 分類號: | G11B7/135 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 岳雪蘭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物鏡 拾取 裝置 信息 記錄 再生 | ||
1.一種物鏡,是用于具有射出第1波長λ1之第1光束的第1光源、射出第2波長λ2(λ2>λ1)之第2光束的第2光源、射出第3波長λ3(λ3>λ2)之第3光束的第3光源,且用所述第1光束進行具有厚度為t1之保護基板的第1光盤的信息記錄及/或再生、用所述第2光束進行具有厚度為t2(t1<t2)之保護基板的第2光盤的信息記錄及/或再生、用所述第3光束進行具有厚度為t3(t2<t3)之保護基板的第3光盤的信息記錄及/或再生之光拾取裝置的物鏡,其特征在于,
所述物鏡的光學面至少備有中央區域、所述中央區域周圍的中間區域、所述中間區域周圍的周邊區域,
所述中央區域備有第1光程差付與構造,
所述中間區域備有第2光程差付與構造,
所述物鏡將穿過所述中央區域的所述第1光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第1光盤的信息記錄面上、將穿過所述中央區域的所述第2光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第2光盤的信息記錄面上、將穿過所述中央區域的所述第3光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第3光盤的信息記錄面上,
所述物鏡將穿過所述中間區域的所述第1光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第1光盤的信息記錄面上、將穿過所述中間區域的所述第2光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第2光盤的信息記錄面上、不將穿過所述中間區域的所述第3光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第3光盤的信息記錄面上,
所述物鏡將穿過所述周邊區域的所述第1光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第1光盤的信息記錄面上、不將穿過所述周邊區域的所述第2光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第2光盤的信息記錄面上、不將穿過所述周邊區域的所述第3光束能夠信息記錄及/或再生地聚光于所述第3光盤的信息記錄面上,
所述第1光程差付與構造是至少重合第1基礎構造和第2基礎構造的構造,
所述第1基礎構造使穿過所述第1基礎構造的第1光束的X次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第1基礎構造的第2光束的Y次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第1基礎構造的第3光束的Z次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量,所述第2基礎構造使穿過所述第2基礎構造的第1光束的L次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第2基礎構造的第2光束的M次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第2基礎構造的第3光束的N次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量,
所述第2光程差付與構造是至少重合第3基礎構造和第4基礎構造及第5基礎構造的構造,
所述第3基礎構造使穿過所述第3基礎構造的第1光束的A次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第3基礎構造的第2光束的B次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量,
所述第4基礎構造使穿過所述第4基礎構造的第1光束的D次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第4基礎構造的第2光束的E次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量,
所述第5基礎構造使穿過所述第5基礎構造的第1光束的0次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第5基礎構造的第2光束的0次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量、使穿過所述第5基礎構造的第3光束的G次的衍射光量大于其他任何次數的衍射光量,
X、Y、Z、L、M、N、A、B、D及E是整數,G是0以外的整數,滿足下式:
X=A????(15)
Y=B????(16)
L=D????(17)
M=E????(18)。
2.如權利要求1中記載的物鏡,其特征在于,滿足下式:
G=±1??(23)。
3.如權利要求1中記載的物鏡,其特征在于,所述第5基礎構造是2級階梯型構造。
4.如權利要求3中記載的物鏡,其特征在于,所述2階梯型構造具有對所述第1光束給出所述第1波長λ1的5波長分的光程差的臺階。
5.如權利要求3中記載的物鏡,其特征在于,所述2階梯型構造具有對所述第1光束給出所述第1波長λ1的3波長分的光程差的臺階。
6.如權利要求3中記載的物鏡,其特征在于,所述2級階梯型構造的上部平臺面上,具有單個所述第4基礎構造和多個所述第3基礎構造的臺階。
7.如權利要求3中記載的物鏡,其特征在于,所述第5基礎構造的最小齒距在10μm以上。
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