[發明專利]具有屏蔽三軸天線的測井儀

有效

• 申請號: 201010170063.3
• 申請日: 2010-05-04
• 公開（公告）號: CN101881152A
• 公開（公告）日: 2010-11-10
• 發明（設計）人: 迪安·M·霍曼;杰拉爾德·N·米勒鮑;羅伯特·C·史密斯
• 申請（專利權）人: 普拉德研究及開發股份有限公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;H01Q21/00;H01Q1/42;H01Q7/00;H01Q7/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王新華

1.一種井下測井儀，包括：

測井儀主體，所述測井儀主體具有縱向軸線；

一組共同定位的天線，所述一組共同定位的天線攜載在所述測井儀主體上；

一個或多個另外的天線，所述一個或多個另外的天線攜載在所述測井儀主體上，且所述一個或多個另外的天線與所述一組共同定位的天線在縱向間隔開；

沿圓周方向包圍所述一組共同定位的天線的電磁透射護罩；和

沿圓周方向包圍所述一個或多個另外的天線中的每一個的電磁透射護罩。

2.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述測井儀是電纜測井儀或隨鉆測井儀。

3.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述測井儀是感應測井儀或傳播測井儀。

4.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述測井儀主體由非磁性金屬制成。

5.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述一組共同定位的天線設置在所述測井儀主體的凹部內。

6.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述一組共同定位的天線包括第一線圈天線、第二線圈天線、和第三線圈天線，所述第一線圈天線具有大致平行于所述縱向軸線的偶極矩，所述第二線圈天線具有大致垂直于所述縱向軸線的偶極矩，所述第三線圈天線具有大致垂直于所述縱向軸線和所述第二線圈天線的偶極矩的偶極矩。

7.根據權利要求6所述的測井儀，其中，所述第一線圈天線是螺線管，而所述第二線圈天線和所述第三線圈天線是鞍形線圈。

8.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述一個或多個另外的天線是發射器天線、接收器天線、或補償線圈天線。

9.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述一組共同定位的天線和/或所述一個或多個另外的天線具有緊密靠近所述天線線圈的繞組的鐵氧體。

10.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述護罩中的每一個都由非磁性金屬制成。

11.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述護罩中的每一個都具有通過所述護罩的槽。

12.根據權利要求11所述的測井儀，其中，所述槽中的每一個都填充有非導電材料。

13.根據權利要求1所述的測井儀，其中，所述護罩中的每一個都具有通過所述護罩的槽，所述槽中的每一個都大致垂直于在下面的天線的最近的繞組。

14.一種對井眼進行測井的方法，包括以下步驟：

提供井下測井儀，所述井下測井儀包括：

測井儀主體，所述測井儀主體具有縱向軸線；

一組共同定位的天線，所述一組共同定位的天線攜載在所述測井儀主體上；

一個或多個另外的天線，所述一個或多個另外的天線攜載在所述測井儀主體上，且所述一個或多個另外的天線與所述一組共同定位的天線沿縱向間隔開；

沿圓周方向包圍所述一組共同定位的天線的電磁透射護罩；和

沿圓周方向包圍所述一個或多個另外的天線中的每一個的電磁透射護罩；以及

當所述測井儀位于所述井眼內時得到測量值。

15.根據權利要求14所述的方法，其中，所述得到測量值的步驟在鉆所述井眼的同時執行。

16.根據權利要求14所述的方法，其中，所述得到測量值的步驟在鉆所述井眼的同時執行，但同時所述測井儀不旋轉。

17.根據權利要求14所述的方法，還包括以下步驟：

由所述測量值確定地層特性和/或其它井下參數。

18.根據權利要求17所述的方法，其中，所述地層特性及其它井下參數包括電阻各向異性、相對傾角、方位角、和與地層界面的距離。

19.根據權利要求17所述的方法，還包括以下步驟：

根據確定的所述地層特性和/或其它井下參數進行鉆進判定。

20.根據權利要求14所述的方法，還包括以下步驟：

使用多個頻率以得到在多個探測深度處的測量值。

21.一種井下NMR測井儀，包括：

測井儀主體，所述測井儀主體具有縱向軸線；

一組共同定位的天線，所述一組共同定位的天線攜載在所述測井儀主體上；和

電磁透射護罩，所述電磁透射護罩沿圓周方向包圍所述一組共同定位的天線。