[發明專利]觸摸屏面板的位置檢測方法、觸摸屏面板和電子裝置

有效

• 申請號: 201010169396.4
• 申請日: 2010-04-22
• 公開（公告）號: CN101872265A
• 公開（公告）日: 2010-10-27
• 發明（設計）人: 近藤幸一;中島孝;清水信吉;羽山正伸;遠藤孝夫;一川大輔
• 申請（專利權）人: 富士通電子零件有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/045
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 呂林紅

1.一種觸摸屏面板的位置檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

(a)確定在被分割成多個導電區域的導電膜上是否存在與所述觸摸屏面板的接觸；

(b)如果所述步驟(a)確定不存在接觸，則測量在檢測到不存在接觸后的時間，并且確定所測量的時間是否小于預定時間；以及

(c)如果所測量的時間小于所述預定時間，則確定為接觸繼續。

2.如權利要求1所述的位置檢測方法，其特征在于，還包括以下步驟：

如果所述步驟(a)確定不存在接觸，則在檢測到不存在接觸后將表示存在接觸的信號輸出預定時間段。

3.一種觸摸屏面板的位置檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

(a)確定在將觸摸屏面板的導電膜分割而成的多個導電區域中的相鄰的兩個導電區域中是否存在與所述觸摸屏面板的接觸；

(b)如果所述步驟(a)確定存在接觸，則計算在所述相鄰的兩個導電區域中接觸的兩個位置的坐標；

(c)根據接觸的兩個位置的坐標計算這兩個位置之間的間隔，并且將所計算的間隔與預定距離進行比較；以及

(d)如果所計算的間隔小于所述預定距離，則計算所述兩個位置的坐標的平均值，并將該平均值確定為接觸位置的坐標。

4.如權利要求1～3中任意一項所述的位置檢測方法，其特征在于，

所述導電膜沿寬度方向和長度方向分別被分割成至少兩個單元，從而被分割成多個導電區域。

5.如權利要求1～4中任意一項所述的位置檢測方法，其特征在干，還包括以下步驟：

檢測所述導電膜與在觸摸屏面板上與所述導電膜相面對的另一導電膜的多個接觸位置中的每個的坐標位置。

6.如權利要求1～5中任意一項所述的位置檢測方法，其特征在于，

所述相鄰的兩個導電區域之間的間隔小于或等于100μm。

7.一種觸摸屏面板的位置檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

(a)逐個地按順序掃描將所述觸摸屏面板的導電膜分割而成的多個導電區域，以檢測在所述導電區域中與所述觸摸屏面板的接觸的第一位置；

(b)在所述步驟(a)之后，逐個地按順序掃描所述導電區域，以檢測在所述導電區域中與所述觸摸屏面板的接觸的第二位置；以及

(c)如果在所述步驟(a)和所述步驟(b)中分別檢測到所述第一位置和所述第二位置，則根據在以所述第一位置為中心的預定區域內是否存在所述第二位置，確定所述第一位置與所述第二位置之間的關系。

8.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

在所述預定區域內存在所述第二位置的情況下，所述步驟(c)確定接觸從所述第一位置移動到所述第二位置。

9.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

在所述預定區域內不存在所述第二位置的情況下，所述步驟(c)確定所述第二位置是與所述觸摸屏面板的新的接觸的位置。

10.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

在所述預定區域內不存在所述第二位置的情況下，所述步驟(c)確定失去接觸。

11.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

如果在所述步驟(a)中在兩個或更多個導電區域的每一個中檢測到所述第一位置，并且所述第二位置位于以所述第一位置為中心的預定區域外，則所述步驟(c)確定接觸從離所述第二位置最近的一個第一位置移動到所述第二位置。

12.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

如果在所述步驟(b)中在兩個或更多個導電區域的每一個中檢測到所述第二位置，并且所述第二位置位于以所述第一位置為中心的預定區域外，則所述步驟(c)確定接觸從所述第一位置移動到離所述第一位置最近的一個第二位置。

13.如權利要求7所述的位置檢測方法，其特征在于，

所述步驟(c)中的確定還根據在以所述第一位置為中心的另一預定區域內是否存在所述第二位置來進行，所述另一預定區域包括所述預定區域；

如果所述第二位置位于所述預定區域外、所述另一預定區域內，則所述步驟(c)確定接觸從所述第一位置移動到所述第二位置。