[發明專利]打擊檢測設備

有效

• 申請號: 201010168510.1
• 申請日: 2010-05-07
• 公開（公告）號: CN101882437A
• 公開（公告）日: 2010-11-10
• 發明（設計）人: 橋本隆二;西田賢一
• 申請（專利權）人: 雅馬哈株式會社
• 主分類號: G10H3/12
• 分類號: G10H3/12
• 代理公司: 北京市中聯創和知識產權代理有限公司 11364
• 代理人: 王玉雙;高龍鑫

1.一種打擊檢測設備，包括：

打擊傳感器，該打擊傳感器構造成檢測被擊打的墊構件的振動，該墊構件具有適于被擊打的打擊表面；以及

介入構件，該介入構件設置在該墊構件和支撐框架之間，該介入構件具有底面，具有彈性的凸起突出地形成于該底面上，

其中當該墊構件處于未被擊打狀態時，該墊構件和該支撐框架中的至少一個僅在所述介入構件的凸起處接觸所述介入構件。

2.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中所述介入構件具有作為該底面的多個底面部分，多個底面部分面向不同方向且沿著具有垂直于該打擊表面的分量的方向延伸，

多個凸起形成于相應的多個底面部分上從而沿不同方向凸起，以及

處于未被擊打狀態的該墊構件沿平行于該打擊表面的方向的位置受多個凸起限制。

3.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中所述介入構件具有作為該底面的底面部分，該底面部分沿具有平行于該打擊表面的分量的方向延伸，

該凸起突出地形成于該底面部分上，以及

處于未被擊打狀態的該墊構件沿垂直該打擊表面的方向的位置受該凸起限制。

4.根據權利要求3所述的打擊檢測設備，其中當該打擊表面被擊打時，突出地形成于該底面部分上的凸起被該墊構件和該支撐框架中的至少一個壓陷，以及該墊構件和該支撐框架中的至少一個也可接觸該底面部分。

5.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中所述介入構件具有作為該底面的多個斜面部分，多個斜面部分面向不同方向且分別沿著具有與該墊構件的該打擊表面成斜角的分量的方向延伸，

多個凸起分別形成于該斜面部分上從而沿不同方向凸起，以及

處于未被擊打狀態的該墊構件沿垂直于和平行于該打擊表面的方向的位置受該多個凸起限制。

6.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中具有不同凸起高度的多個凸起形成于所述介入構件的該底面上從而沿相同方向突出，以及

該墊構件和該支撐框架中的至少一個在該墊構件處于未被擊打狀態時接觸多個凸起中至少一個具有最大凸起高度的凸起，且在該墊構件被施加位移力時可以接觸多個凸起中的其它凸起。

7.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中該凸起的、垂直于該凸起突出地形成的方向的截面的面積朝該凸起的末端變更小。

8.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中沿具有平行于該打擊表面的分量的方向延伸的凸起和沿具有垂直于該打擊表面的分量的方向延伸的凸起與所述介入構件一體地形成。

9.根據權利要求1所述的打擊檢測設備，其中所述支撐框架具有多個環形肋，多個環形肋分別形成有從該環形肋的內表面向內突出的板部，

分別對應于多個環形肋的多個所述固定構件被固定到該墊構件，每個所述固定構件具有凸緣和圓柱部，所述圓柱部從所述凸緣延伸并插入穿過相應的環形肋，

多個所述介入構件分別設置在所述固定構件和所述環形肋之間，以及

每個所述介入構件形成有接觸或用于接觸相應固定構件的凸緣或者相應環形肋的板部的凸起，以及形成有接觸或用于接觸相應環形肋的內表面或者相應固定構件的外表面的凸起。