[發明專利]一種用于射線位置和能量測量的閃爍體探測器

無效

• 申請號: 201010168394.3
• 申請日: 2010-05-11
• 公開（公告）號: CN101833106A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 劉繼國
• 申請（專利權）人: 劉繼國
• 主分類號: G01T1/202
• 分類號: G01T1/202
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用來測量射線擊中位置和能量的閃爍體探測器，其特征在于探測器包括：

(1)一個包含多個光電轉換器件的光電轉換器件陣列；

(2)一個包含多個閃爍晶體條的閃爍晶體陣列；

(3)一個包含多個光導條的光導陣列；

(4)光導陣列的一個面耦合在閃爍晶體陣列上，另一個面耦合在光電轉換器件陣列上；

(5)相鄰的閃爍晶體條和光導條之間，放有長度不一的反光介質，通過調節反光介質的面積來調節閃爍光的分配；

2.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于閃爍晶體陣列包含m乘以n個晶體條，其中m可以等于n，也可以不等于n。

3.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于光導條陣列中的光導條和閃爍晶體陣列中的晶體條的個數完全相同，位置上一一對應。

4.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于閃爍晶體的材料是硅酸釔镥、鍺酸鉍或者其它具有相近或更多光產額的閃爍晶體。

5.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于光導條的材料是光學玻璃，或者光學有機玻璃，或者其它具有較好透光能力的透明光學材料，光導條的表面或者是粗糙面，或者是拋光面。

6.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于反射介質是頻譜增強型反射膜，或者特氟龍薄膜，或者氧化鈦粉末，或者其他在閃爍熒光光譜范圍內具有高反射率、低吸收率的反射材料。

7.根據權利要求1所述的閃爍體探測器，其特征在于在進行晶體/光導條生產時，首先將整塊晶體塊和光導塊通過光學膠粘合起來，然后進行切割、研磨和拋光處理，從而保障晶體條和光導條的一致性。