[發(fā)明專利]一種繼電器觸點上的電壓降的間接測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010168292.1 | 申請日： | 2010-04-22 |
| 公開（公告）號： | CN102193017A | 公開（公告）日： | 2011-09-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 吳玉田;張平;禹衛(wèi)東 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院電子學(xué)研究所 |
| 主分類號： | G01R19/00 | 分類號： | G01R19/00;G01R31/327 |
| 代理公司： | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人： | 周國城 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 繼電器 觸點 電壓 間接 測試 方法 | ||
1.一種電源控制中繼電器觸點上的電壓降間接測試方法，其特征在于，包括步驟：
A)在設(shè)備外部設(shè)置一測試電路；
B)測試出從28V正輸入端到負(fù)載正端的電壓降UP；
C)測試出負(fù)載負(fù)端到28V輸入負(fù)端的電壓降UN；
D)將B)步、C)步所得結(jié)果相減：UP-UN得繼電器觸點上的電壓降UC。
2.如權(quán)利要求1所述的繼電器觸點上的電壓降間接測試方法，其特征在于，所述設(shè)備外部設(shè)置一測試電路，是在測試設(shè)備放四個接線柱，28V直流電源正端與第一個接線柱、電源控制設(shè)備28V?Input相連，負(fù)端與第四個接線柱、電源控制設(shè)備28V?Input?RTN相連，負(fù)載正端與第二個接線柱、電源控制設(shè)備28V?Output相連，負(fù)載負(fù)端端與第三個接線柱、電源控制設(shè)備28V?Output?RTN相連；當(dāng)設(shè)備正常工作時分別測出第一個接線柱到第二個接線柱電壓降UP、第三個接線柱到第四個接線柱電壓降UN，兩者的差即為繼電器觸點上的電壓降UC。
3.如權(quán)利要求1所述的繼電器觸點上的電壓降間接測試方法，其特征在于，所述電壓降UP由導(dǎo)線上電壓降和繼電器觸點上的電壓降兩部分組成；
在整個電流路徑中從28V正輸入端到負(fù)載正端的導(dǎo)線長度與回線的導(dǎo)線長度相等，所以導(dǎo)線上的電壓降也認(rèn)為是相等的。
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