[發明專利]使用在一存儲裝置的存儲子單元抹除方法

有效

• 申請號: 201010167652.6
• 申請日: 2010-04-26
• 公開（公告）號: CN102237136A
• 公開（公告）日: 2011-11-09
• 發明（設計）人: 余傳英;洪俊雄;陳耕暉
• 申請（專利權）人: 旺宏電子股份有限公司
• 主分類號: G11C16/14
• 分類號: G11C16/14;G11C16/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 梁愛榮

1.一種使用在一存儲器的抹除方法，其特征在于，該存儲器包含多個存儲子單元且被分割成多個區段的該這些存儲子單元，該方法包含：

對一存儲單元的存儲子單元進行一抹除程序；

當執行該抹除程序時接收一暫停命令；以及

響應該暫停命令，而中斷該抹除程序且執行一程序化操作于該存儲單元的至少一存儲子單元中。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該存儲單元是該多個區段之一的一部分。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該程序化操作包括一富勒-諾德漢(F-N)程序化操作。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，該至少一存儲子單元包括一晶體管形成于一基板之上，且其中該程序化操作包括施加一正電壓至該晶體管的一柵極及施加一負電壓至該基板。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該抹除程序包括施加一預程序化脈沖至該存儲單元的該這些存儲子單元。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該抹除程序包括施加一抹除脈沖至該存儲單元的該這些存儲子單元。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該抹除程序包括施加一軟程序化(soft-program)脈沖至該存儲單元的該些存儲子單元。

8.一種非揮發存儲器裝置，其特征在于，包含：

一存儲陣列，包含多個存儲子單元且被分割成多個存儲區塊，每一個存儲區塊分割成多個存儲區段的存儲子單元；以及

一存儲控制器，組態成：

對該存儲陣列的一存儲單元的存儲子單元進行一抹除程序；

當執行該抹除程序時暫停該這些存儲子單元的抹除，以進行一中斷操作；以及

于該暫停命令之后及執行該中斷操作之前，執行一程序化操作于該存儲單元的至少一存儲子單元中。

9.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該存儲單元是該多個區段之一的一部分。

10.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該存儲單元是一區段。

11.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該程序化操作包括一富勒-諾德漢(F-N)程序化操作。

12.如權利要求11所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該至少一存儲子單元包括一晶體管形成于一基板的之上，且其中該程序化操作包括施加一正電壓至該晶體管的一柵極及施加一負電壓至該基板。

13.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該抹除程序包括施加一預程序化脈沖至該存儲單元的該這些存儲子單元。

14.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該抹除程序包括施加一抹除脈沖至該存儲單元的該這些存儲子單元。

15.如權利要求8所述的非揮發存儲器裝置，其特征在于，該抹除程序包括施加一軟程序化脈沖至該存儲單元的該這些存儲子單元。