[發明專利]分支光纖檢測系統及方法、光分配網絡和分光器

有效

• 申請號: 201010167154.1
• 申請日: 2010-05-10
• 公開（公告）號: CN102244538A
• 公開（公告）日: 2011-11-16
• 發明（設計）人: 溫運生;趙峻;王波;單小磊;王世軍
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08;H04B10/20
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種分支光纖檢測系統，包括：主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述主干光纖的一端耦合有測試設備，另一端通過所述分光模塊連接到所述多個分支光纖，其特征在于：

所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同；

所述測試設備用于根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，并且接收所述測試信號在對應分支光纖反射而形成的反射信號，并根據反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。

2.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述分光模塊為一個分光比為1∶N的分光器，所述測試光譜包括N個測試波長子帶，且所述分光器的每個端口所設置的光學膜分別對應于一個測試波長子帶。

3.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試光譜包括N個測試波長子帶，所述分光模塊的分光比為1∶N，其中N＝m×n，且所述分光模塊包括一個連接到所述主干光纖且分光比為1∶m的第一級分光器和m個分光比為1∶n的第二級分光器，其中所述m個第二級分光器分別連接到所述第一級分光器的m個端口，且不同的第二級分光器端口分別連接到不同的分支光纖。

4.如權利要求3所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述第一級分光器的m個端口所設置的光學膜分別對應于m個不同的第一波長子帶，所述m個第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且每個第二級分光器中n個端口所設置的光學膜分別對應于n個不同的第二波長子帶，其中不同的第一波長子帶不相互交迭，不同的第二波長子帶也不相互交迭，每個第二波長子帶分別包括m個相鄰的測試波長子帶，每個第一波長子帶分別包括n個相互間隔的測試波長子帶，且其中所述n個相互間隔的第一波長子帶中的各個測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。

5.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述預設規則為梳齒交叉間隔的鍍膜方式。

6.如權利要求1至5中任一項所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試設備內部預先設置有分支光纖與測試波長子帶的對應關系，其中不同的測試波長子帶分別對應于不同的分支光纖，且所述測試設備在對待測分支光纖進行檢測時可根據所述對應關系選擇與所述待測分支光纖對應的測試波長子帶并發送對應波長的測試信號。

7.如權利要求1至5中任一項所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試設備內部預先設置有分光器端口號與測試波長子帶的對應關系，其中不同的測試波長子帶分別對應于不同的分光器端口號，且所述測試設備在對待測分支光纖進行檢測時可根據所述對應關系選擇與所述待測分支光纖連接到的分光器端口的端口號對應的測試波長子帶并發送對應波長的測試信號。

8.一種分支光纖檢測方法，應用于點到多點的光纖網絡，所述光纖網絡包括：主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則進行鍍膜以使所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同，其特征在于，所述方法包括：

根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向所述光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，通過所述分光器端口的鍍膜，所述測試信號經過所述待測分支光纖所對應的分光器端口并傳輸至所述待測分支光纖，而在其他分支光纖對應的分光器端口被濾除而不進入其他分支光纖；

接收所述測試信號在待測分支光纖反射而形成的反射信號，并根據所述反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。

9.一種光分配網絡，其特征在于，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，其中，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同。