[發明專利]觸摸面板裝置

有效

• 申請號: 201010164251.5
• 申請日: 2010-04-14
• 公開（公告）號: CN101866239A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 土井宏治;萬場則夫;永田浩司;熊谷俊志;早川浩二
• 申請（專利權）人: 株式會社日立顯示器
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 王永剛

技術領域

本發明涉及觸摸面板裝置，尤其涉及在投影型(projectedcapacitive?type)靜電電容方式的觸摸面板裝置中檢測觸摸位置的技術。

背景技術

觸摸面板裝置(也稱為觸摸屏，touch?screen)是一體地形成有被稱為觸摸板(touch?pad)的入力裝置和由平板顯示器等構成的輸出裝置的用戶界面裝置。觸摸面板裝置的特征在于用手指等直接觸摸顯示器上顯示的操作對象的直觀的操作方法，在信息終端等中被廣泛利用。

觸摸面板裝置有各種各樣的實現方式，作為其一種方式，有投影型靜電電容方式。在本方式中，在面板上配置有多個電極，基于當指尖靠近面板時發生的各電極的靜電電容的變化而檢測觸摸位置。電極使用透射率高的材料，通過將其配置在顯示面板上而構成觸摸面板裝置。

作為輸入裝置的觸摸面板的性能指標，有觸摸位置的檢測精度。在面板上的用戶實際觸摸的位置與被檢測出的位置的誤差越小，則認為精度越高。

作為以高精度在投影型靜電電容方式的觸摸面板裝置中檢測觸摸位置的技術的例子，可以列舉日本特表2003-511799號公報(以下，稱專利文獻1)中記載的方法。在該觸摸位置檢測方法中，通過將用于檢測X、Y各自的方向的位置的電極做成在觸摸時可使指尖同時觸及多個電極那樣的電極圖案，可以高精度地計算觸摸位置。

此外，在日本特開2008-269297號公報(以下稱專利文獻2)中，通過使用將用于檢測X和Y方向的位置的電極形成在單一的層上的電極圖案，可以實現制造工序的簡化。

然而，在以往的觸摸位置檢測方法中，在觸摸時指尖在面板上的觸摸范圍(觸摸區)從配置了電極的區域(電極區)伸出時，存在被檢測的觸摸位置的精度降低的問題。為了防止該問題，需要將觸摸位置檢測的有效范圍限定在電極區的內側的一定范圍內。因此，即使在整個面板上配置電極，也會在面板的端部形成現檢測不到觸摸位置的區域。

發明內容

本發明為了解決上述那樣的問題，其目的在于提供一種觸摸面板裝置，即使在觸摸區從電極區伸出的情況下，也能以高的精度檢測觸摸位置，并且由此使電極區整體成為觸摸位置檢測的有效范圍。

本發明中示出以下兩種解決方案。

在第1解決方案中，將觸摸區的形狀假定為例如圓形。上述觸摸區的圓形與電極區重疊的區域的X方向的寬度和Y方向的寬度可以根據傳感器測定值計算。當上述X方向的寬度與上述Y方向的寬度不同時，判定為上述觸摸區從上述電極區伸出，將上述觸摸區的圓形的中心的位置視為觸摸位置而進行計算。

在第2解決方案中，當面板端的電極中的信號值成為最大時，判定為對面板周邊部的觸摸。在為對面板周邊部的觸摸時，在通過觸摸位置計算處理進行的加權平均的計算中，可以使用與對面板中央部的觸摸時不同的電極位置參數值。通過對各電極的信號值進行加權，并使上述加權的程度與觸摸大小對應地變化，對計算位置進行修正。

另外，在日本特開平10-020992號公報(專利文獻3)中，也示出了在面板端的電極的信號值成為最大的情形下以高精度檢測觸摸位置的方案。然而，該方案是通過選擇與端部的電極相鄰的電極位置和其它端部的電極位置，使用近似2次曲線來檢測觸摸位置的方法，是與本發明完全不同的方法。

根據第1解決方案，即使在X方向或Y方向中的某一方向上觸摸區從電極區伸出時，也能以高精度檢測觸摸位置。

根據第2解決方案，即使在使用用于檢測一個方向的觸摸位置的電極來檢測對面板周邊部的觸摸時，也能以高精度檢測觸摸位置。

附圖說明

圖1是示出第1實施方式中的觸摸面板·模塊的整體構成的框圖。

圖2是示出觸摸面板1的剖面結構的剖面圖。

圖3是示出觸摸位置檢測處理的步驟的流程圖。

圖4是示出觸摸區從電極區伸出時的傳感器測定值的例子的圖。

圖5是示出觸摸區從電極區伸出時的觸摸位置的計算方法的圖。

圖6是示出第2實施方式中的觸摸面板·模塊的整體構成的框圖。

圖7是示出觸摸位置檢測處理的步驟的流程圖。

圖8是示出觸摸位置為面板中央部時的例子的圖。

圖9是示出觸摸位置為面板周邊部時的例子的圖。

(附圖標記說明)

1觸摸面板????????????11保護層

12絕緣層?????????????13基板層

X，Y電極層???????????X1～5電極(X軸)

Y1～5電極(Y軸)???????2靜電電容檢測部