[發明專利]一種超聲波探傷儀大角度及小角度縱波斜探頭校準方法

無效

• 申請號: 201010163784.1
• 申請日: 2010-05-06
• 公開（公告）號: CN101819183A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 符豐
• 申請（專利權）人: 符豐
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30;G01N29/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種超聲波探傷儀大角度及小角度縱波斜探頭校準方法，包括一超聲波探傷儀，其通過探頭發射超聲波進行工件探傷，其特征在于，本方法依次包括以下步驟：

1)準備一用于探頭校準的試塊，以及一用于超聲波探傷儀的大角度或小角度縱波斜探頭，試塊應當為實際探傷時工件所使用的材料，并在試塊的三倍近場以外，分別鉆2個距離試塊上表面水平高度分別為h₁和h₂的孔，孔直徑為φ，且h₁≠h₂；

2)使用探頭在試塊上表面來回移動，直到高度h₁的孔在超聲波探傷儀上顯示最高反射回波，得到探頭內超聲波發出端至該孔的距離S₁，并測量此時該孔到探頭前端的距離L₁；然后再移動探頭，直到高度h₂的孔在超聲波探傷儀上顯示最高反射回波，得到探頭內超聲波發出端至該孔的距離S₂，并測量此時該孔到探頭前端的距離L₂；

3)按照下述數學模型得到探頭內部聲程a、探頭前置聲程b及探頭K值：

τ₁＝S₁+a，τ₂＝S₂+a，(S₂+φ/2)/(S₁+φ/2)＝h₂/h₁＝n；

(1).探頭內部聲程：a＝[n(τ₁+φ/2)-(τ₂+φ/2)]/(n-1)；

(2).探頭K值：K＝tgcos^-1h₁/(τ₁+φ/2-a)；

(3).探頭前置聲程：b＝(L₂-nL₁)/(n-1)。