[發明專利]地層因數確定方法及含油飽和度確定方法有效
| 申請號: | 201010163115.4 | 申請日: | 2010-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN101892837A | 公開(公告)日: | 2010-11-24 |
| 發明(設計)人: | 李長喜;張龍海;王昌學;李潮流;李霞 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00;E21B47/00;G01V3/18 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 田野 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 地層 因數 確定 方法 含油 飽和度 | ||
1.一種地層因數確定方法,其特征在于,包括步驟:
選取次生孔隙發育低滲透油氣層代表性系列巖心,測量并獲得巖心孔隙度φ、滲透率K、毛管壓力曲線Pc、平均孔喉半徑其中孔隙度φ反映巖石中導電流體體積,反映導電路徑;
將巖石中導電流體體積和導電路徑作為確定地層因數F的參數,具體關系式為:根據導電流體體積和導電路徑,確定地層因數;其中的系數a、b、c通過巖心數據標定獲得。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,獲得所述系數a、b、c的具體步驟包括:
選取次生孔隙發育低滲透油氣層代表性系列巖心進行巖石物理實驗,測量并獲得巖心孔隙度φ、滲透率K、毛管壓力曲線Pc、平均孔喉半徑
實驗測量及計算巖心所飽和的地層水電阻率RW和飽含水巖石電阻率R0設定待定系數a、b、c,令應用最小二乘法擬合得到待定系數a、b、c的值。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述的巖石物理實驗是按照《巖心分析方法(SY/T5336-2006)》和《巖石毛管壓力曲線的測定(SY/T5346-2005)》標準流程進行。
4.根據權利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述的巖心孔隙度φ為小數,巖心滲透率K的單位為10-3μm2,巖石毛管壓力曲線Pc的單位為MPa,平均孔喉半徑的單位為μm。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述實驗測量及計算巖心所飽和的地層水電阻率RW和飽含水巖石電阻率R0是按照《巖石電阻率參數實驗室測量及計算方法(SY/T5385-2007)》標準流程進行。
6.一種含油飽和度確定方法,其特征在于,包括步驟:
選取次生孔隙發育低滲透油氣層代表性系列巖心,測量并獲得巖心孔隙度φ、滲透率K、毛管壓力曲線Pc、平均孔喉半徑其中孔隙度φ反映巖石中導電流體體積,反映導電路徑;
將巖石中導電流體體積和導電路徑作為確定地層因數F的參數,具體關系式為:根據導電流體體積和導電路徑,確定地層因數F;其中的系數a、b、c通過巖心數據標定獲得;
由水分析資料獲得地層水電阻率Rw;由測井資料獲得儲層電阻率Rt;應用阿爾奇模型確定含油巖石飽和度指數n,根據公式獲得儲層的含油飽和度,其中,SO為含油飽和度;SW為含水飽和度。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,獲得所述系數a、b、c的具體步驟包括:
選取次生孔隙發育低滲透油氣層代表性系列巖心進行巖石物理實驗,測量并獲得巖心孔隙度φ、滲透率K、毛管壓力曲線Pc、平均孔喉半徑
實驗測量及計算巖心所飽和的地層水電阻率RW和飽含水巖石電阻率R0;
設定待定系數a、b、c,令應用最小二乘法擬合得到待定系數a、b、c的值。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述的巖石物理實驗是按照《巖心分析方法(SY/T5336-2006)》和《巖石毛管壓力曲線的測定(SY/T5346-2005)》標準流程進行。
9.根據權利要求7或8所述的方法,其特征在于,所述的巖心孔隙度φ為小數,巖心滲透率K的單位為
10-3μm2,巖石毛管壓力曲線Pc的單位為MPa,平均孔喉半徑的單位為μm。
10.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述實驗測量及計算巖心所飽和的地層水電阻率RW和飽含水巖石電阻率R0是按照《巖石電阻率參數實驗室測量及計算方法(SY/T5385-2007)》標準流程進行。
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