[發明專利]一種測量鋼中殘余奧氏體含量的方法

有效

• 申請號: 201010160182.0
• 申請日: 2010-04-23
• 公開（公告）號: CN101819167A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 周順兵;李長一;陳士華;吳立新;張彥文;張敏
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵(集團)公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 鐘鋒

1.一種測量鋼中殘余奧氏體含量的方法，它的測量設備主要為X-射線衍射儀，其特征在于：包括以下步驟：

步驟(1)、準備好塊狀鋼鐵材料試樣，該試樣中包含奧氏體和馬氏體兩個相，或包括奧氏體和鐵素體兩個相，同時還要準備塊狀純馬氏體或純鐵素體的標樣，該標樣中不存在織構；除去試樣和標樣的表面殘余應力；

步驟(2)、實驗的步驟，具體為：

步驟(2.1)、選取馬氏體或鐵素體的(200)、(211)、(220)、(321)、(400)、(411)、(422)、(440)和(433)九個衍射峰作為測試對象，將這九個衍射峰分成兩組，第一組由(200)、(211)、(220)三個衍射峰組成，第二組由(321)、(400)、(411)、(422)、(440)和(433)六個衍射峰組成；

步驟(2.2)、對X-射線衍射儀上的測角臺進行初始化處理，使測角臺的1θ軸和2θ軸都處在0度位置；

步驟(2.3)、確定各衍射峰的2θ角位置及其左右兩背底位置的步驟；

步驟(2.3.1)、用CoK_α輻射對標樣進行掃描，得到標樣的衍射圖譜，并由此確定第一組中各衍射峰的2θ角位置及其左右兩背底位置；

步驟(2.3.2)、用MoK_α輻射對標樣進行掃描，得到標樣的衍射圖譜，并由此確定第二組中各衍射峰的2θ角位置及其左右兩背底位置；

步驟(2.4)、測量試樣和標樣的峰強度，具體為：

步驟(2.4.1)、使測角臺的1θ軸和2θ軸都處在0度位置，采用CoK_α輻射測量第一組中的衍射峰，使測角臺的1θ軸和2θ軸按1∶2的角速度耦合，根據步驟(2.3.1)得到的各衍射峰的2θ角位置，使2θ軸處于某個衍射峰的位置，分別放入試樣和標樣，固定2θ軸，然后讓1θ軸采用單動掃描方式采集數據，得到該衍射峰的一系列不同角度下試樣和標樣的峰強度；

步驟(2.4.2)、重復步驟(2.4.1)，區別在于：使2θ軸分別處于第一組中的其它兩衍射峰的位置，分別得到兩個衍射峰一系列不同角度下的試樣和標樣的峰強度；

步驟(2.4.3)、采用MoK_α輻射測量第二組衍射峰，重復步驟(2.4.1)，區別在于：根據步驟(2.3.2)得到的各衍射峰的2θ角位置，使2θ軸分別處于第二組中的各衍射峰的位置，分別得到各衍射峰的一系列不同角度下試樣和標樣的峰強度；

步驟(2.5)、測量試樣和標樣的左右兩背底強度，具體為：

步驟(2.5.1)、使測角臺的1θ軸和2θ軸都處在0度位置，采用CoK_α輻射測量第一組中的衍射峰的左右兩背底，使測角臺的1θ軸和2θ軸按1∶2的角速度耦合，根據步驟(2.3.1)得到的各衍射峰的2θ角左右兩背底位置，使2θ軸分別處于某個衍射峰的左右兩背底位置，分別放入試樣和標樣，固定2θ軸，然后讓1θ軸采用單動掃描方式采集數據，得到該衍射峰的一系列不同角度下試樣和標樣的左右兩背底強度；

步驟(2.5.2)、重復步驟(2.5.1)，區別在于：使2θ軸分別處于第一組中的其它兩衍射峰的左右兩背底位置，分別得到兩個衍射峰的一系列不同角度下的試樣和標樣的左右兩背底強度；

步驟(2.5.3)、采用MoK_α輻射測量第二組中的衍射峰的左右兩背底，重復步驟(2.5.1)，區別在于：根據步驟(2.3.2)得到的各衍射峰的2θ角左右兩背底位置，使2θ軸分別處于第二組中的各衍射峰的左右兩背底位置，分別得到各衍射峰的一系列不同角度下試樣和標樣的左右兩背底強度；

步驟(3)、根據步驟(2)測得的試樣和標樣的峰強度和左右兩背底強度，計算得到試樣中奧氏體含量。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于：步驟(2.4)和(2.5)中，1θ軸采用單動掃描方式采集數據時的實驗條件相同。