[發明專利]數字接口射頻芯片測試方法、裝置和系統

有效

• 申請號: 201010158610.6
• 申請日: 2010-04-27
• 公開（公告）號: CN101846726A
• 公開（公告）日: 2010-09-29
• 發明（設計）人: 李志俊;李俊鴻
• 申請（專利權）人: 廣州市廣晟微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 逯長明

技術領域

本發明涉及射頻芯片測試領域，更具體地說，涉及一種數字接口射頻芯片測試方法、裝置和系統。

背景技術

數字接口射頻芯片的數據端口具有寫入，讀取功能。在進行接收測試時需要使用邏輯分析儀，對接收到的數據采集分析，在進行發送測試時需要使用信號發生器為數字接口射頻芯片提供測試數據，因此在測試數字接口射頻芯片時，在發送時需要將數字接口射頻芯片的接口連接到信號發生器，而在接收時需要將數字接口射頻芯片的接口連接到邏輯分析儀的端口。此外在傳統的數字芯片測試方案中，信號發生器和邏輯分析儀不能直接提供數字接口射頻芯片控制信號，而需要另外的通路提供。

通過對現有技術的研究，發明人發現，傳統的測試方案中需要頻繁的插拔數字接口射頻芯片的接口，極易損壞接口，也不利于連續快速的進行測試，同時傳統的測試裝置也無法直接提供數字接口射頻芯片控制信號，需要另外的通路提供，也增加了測試裝置的復雜性和成本。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明的目的在于提供一種數字接口射頻芯片測試方法、裝置和系統，使得在進行收發測試分析時，無需信號發生器和邏輯分析儀，也無需頻繁的插拔數字接口射頻芯片的接口，使測試能夠快速連續的進行，同時直接為數字接口射頻芯片提供控制信號。

為實現上述目的，本發明提供了如下技術方案：

一種數字接口射頻芯片測試方法，包括：

信號生成單元根據測試信號數據生成初始數據并發送到信號收發單元，所述初始數據的高位為接收或發送控制字；

信號收發單元接收所述初始數據并存儲在存儲單元中；

信號收發單元接收信號生成單元發送的收發工作指令，并根據所述初始數據的接收或發送控制字，向數字接口射頻芯片發送控制信號；信號收發單元與射頻芯片同步進入相應的發送狀態或接收狀態；

當信號收發單元處于發送狀態時，將所述初始數據發送到數字接口射頻芯片；當信號收發單元處于接收狀態時，接收數字接口射頻芯片的返回信號并存儲在存儲單元中。

本發明實施例還提供了一種數字接口射頻芯片測試裝置，包括：

信號生成單元、信號收發單元和存儲單元；

所述信號生成單元，用于根據測試信號數據生成初始數據并發送到信號收發單元，和向信號收發單元發送控制指令；所述初始數據的高位為接收或發送控制字；

所述信號收發單元，用于根據接收到的控制指令，將初始數據存儲在存儲單元中，將所述初始數據發送到數字接口射頻芯片，將數字接口射頻芯片的返回信號存儲在存儲單元，和根據所述初始數據的接收或發送控制字，向數字接口射頻芯片發送控制信號；

所述存儲單元，用于存儲接收到的初始數據和從數字接口射頻芯片接收到的返回信號數據。

一種數字接口射頻芯片測試系統，包括：

控制端、數字接口射頻芯片和所述數字接口射頻芯片測試裝置。

應用本發明提供的數字接口射頻芯片測試方法、裝置和系統，可以為數字接口射頻芯片提供測試所需的數據，并對數字接口射頻芯片返回的數據進行采集和分析，同時可以根據初始數據中的接收或發送控制字，為數字接口射頻芯片直接提供控制信號，使得在進行收發測試分析時，無需信號發生器和邏輯分析儀，也無需頻繁的插拔數字接口射頻芯片的接口進行接收、發送的切換，保護了射頻芯片的數字接口，使測試能夠快速連續的進行，簡化了測試裝置，降低了測試成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試方法的流程圖；

圖2為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試方法的另一種流程圖；

圖3為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試裝置的結構圖；

圖4為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試裝置的另一種結構圖；

圖5為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試裝置的信號發生單元的結構圖；

圖6為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試裝置的又一種結構圖；

圖7為本發明實施例提供的數字接口射頻芯片測試系統的結構圖。

具體實施方式