[發明專利]用于存儲器安裝測試的主板和系統

無效

• 申請號: 201010158336.2
• 申請日: 2010-03-30
• 公開（公告）號: CN101859607A
• 公開（公告）日: 2010-10-13
• 發明（設計）人: 李廷國;李成熙
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G06F1/16
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 王青芝;郭鴻禧

本申請要求于2009年4月1日在韓國知識產權局(KIPO)提交的第2009-0028027號韓國專利申請的優先權，該申請的內容通過引用完全包含于此。

技術領域

示例性實施例涉及一種存儲器測試系統，例如，一種用于存儲器安裝測試的主板和具有所述主板的存儲器安裝測試系統。

背景技術

可通過將半導體裝置連接到自動測試裝備(ATE)，將預定信號模式施加到半導體裝置，并分析半導體裝置的輸出信號，來執行半導體裝置的測試。隨著半導體裝置的容量和運行速度的增加，用于測試半導體裝置的成本也增加。因為不是在真實使用條件下執行所述測試，而是在特殊設計的測試條件下執行所述測試，所以半導體裝置的精確測試相對困難。

為了在真實使用條件下執行存儲器模塊的安裝測試，可在存儲器模塊安裝在主板或母板上的同時對存儲器模塊進行測試。在存儲器模塊的安裝測試中，可將在個人計算機中使用的動態隨機存取存儲器(DRAM)模塊安裝在主板上，并可執行考慮到真實運行條件而設計的測試程序。當個人計算機正常運行時，可確定存儲器模塊沒有失效。另一方面，當個人計算機異常運行時，可確定存儲器模塊失效。然而，這種在系統層面中對于相對高容量的存儲器模塊的安裝測試需要增加的時間和成本。

發明內容

示例性實施例涉及一種用于存儲器安裝測試的主板和包括所述主板的存儲器安裝測試系統。根據示例性實施例的主板可包括基板和至少一個插座。所述至少一個插座可在與基板平行的方向上將存儲器模塊連接到基板。所述至少一個插座可連接到基板的尾部。

所述主板還可包括中央處理單元、存儲器控制器以及/或輸入和輸出控制電路。中央處理單元、存儲器控制器以及/或輸入和輸出控制電路可在基板的前表面上。所述至少一個插座可連接到基板的前表面。或者，所述至少一個插座可連接到基板的后表面，所述后表面與所述前表面相對。所述至少一個插座還可包括第一插座和第二插座。第一插座可連接到基板的前表面，第二插座可連接到基板的后表面，所述后表面與所述前表面相對。

主板還可包括中央處理單元、存儲器控制器、輸入和輸出控制電路以及/或接口電路，所述接口電路與外部裝置接口連接，基板可包括第一基板部分和第二基板部分。所述第一基板部分可包括所述至少一個插座、中央處理單元、存儲器控制器以及輸入和輸出控制電路，所述第二基板部分可包括與外部裝置接口連接的接口電路。

根據示例性實施例的存儲器安裝測試系統可包括多個主板和測試電路。多個主板中的每一個可包括基板和插座，所述插座可在與基板平行的方向上將存儲器模塊連接到基板。所述測試電路可電連接到所述多個主板，并通過將尋址信號、控制信號和/或數據信號施加到所述多個主板來執行安裝測試。

所述存儲器模塊可具有兩排或更多排，且在安裝測試期間可被配置為具有一排。存儲器模塊可包括第一輸入、第二輸入、第三輸入和第四輸入。在排平行測試板(PTB)模式期間，第一輸入和第二輸入可彼此連接，第三輸入和第四輸入可彼此連接。在正常模式期間，第一輸入可連接到第一排，并接收用于第一排的芯片選擇信號，第二輸入可連接到第二排，并接收用于第二排的芯片選擇信號，第三輸入可連接到第一排，并接收用于第一排的時鐘使能信號，第四輸入可連接到第二排，并接收用于第二排的時鐘使能信號。

存儲器模塊還可包括第五輸入和第六輸入。在排PTB模式期間，第五輸入和第六輸入可彼此連接。在正常模式期間，第五輸入可連接到第一排，并接收用于第一排的芯片上終止信號，第六輸入可連接到第二排，并接收用于第二排的芯片上終止信號。

在排PTB模式期間，第五輸入和第六輸入中的一個可接地。在正常模式期間，第五輸入可連接到第一排，并接收用于第一排的芯片上終止信號，第六輸入可連接到第二排，并接收用于第二排的芯片上終止信號。

根據示例性實施例的另一存儲器安裝測試系統可包括多個主板和多個電源。所述多個主板中的每一個可包括基板、連接器和插座，所述插座在與基板平行的方向上將存儲器模塊連接到基板。所述連接器可從外部裝置接收尋址信號、控制信號和/或數據信號用于對存儲器模塊執行安裝測試。所述多個電源可向所述多個主板供電。所述電源中的每一個可連接到所述多個主板中的至少一個(例如，兩個或更多個)。