[發明專利]正電子CT裝置和核醫學圖像生成方法

無效

• 申請號: 201010158135.2
• 申請日: 2010-03-31
• 公開（公告）號: CN101862199A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 高山卓三;勅使川原學;梅原隆哉;小森智康
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝醫療系統株式會社
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;G01T1/161
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 崔成哲

1.一種正電子CT裝置，是根據從被檢體內的放射性同位素發射的伽馬射線的檢測結果生成圖像的正電子CT裝置，其特征在于，包括：

檢測器，具有將入射的上述伽馬射線變換為與上述伽馬射線的能量對應的光量的光的多個閃爍器，該檢測器圍繞上述被檢體并列配置成環狀；

位置算出部，根據上述伽馬射線向毗鄰的多個上述閃爍器同時入射而上述檢測器檢測同時入射的上述伽馬射線的檢測結果，算出上述伽馬射線的通過位置；以及

重構部，通過將通過上述算出的上述通過位置的軌跡作為投影方向而進行逆投影處理，重構上述被檢體內的上述放射性同位素的濃度分布的上述圖像。

2.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的2個上述閃爍器同時入射時：

算出表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高的比率，

算出上述伽馬射線分別通過上述2個上述閃爍器內的距離的比率與上述波高的比率一致的上述伽馬射線的軌跡，

算出上述毗鄰的上述2個閃爍器的邊界與上述軌跡的交點，

將上述交點作為上述通過位置。

3.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的3個上述閃爍器同時入射時：

算出表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高的比率，

算出上述伽馬射線分別通過上述3個閃爍器內的距離的比率與上述波高的比率一致的上述伽馬射線的軌跡，

算出上述毗鄰的3個上述閃爍器的各邊界與上述軌跡的交點，

將上述各邊界上的上述交點作為上述通過位置。

4.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的2個上述閃爍器同時入射時：

根據表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高與上述2個閃爍器的阻止本領，算出上述毗鄰的上述2個閃爍器的邊界上的上述伽馬射線的上述通過位置。

5.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的3個上述閃爍器同時入射時：

根據表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高與上述3個閃爍器的阻止本領，算出上述毗鄰的上述3個閃爍器的各邊界上的上述伽馬射線的上述通過位置。

6.根據權利要求2所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部根據與毗鄰的上述2個閃爍器同時入射上述伽馬射線的其他閃爍器的位置，判別向上述毗鄰的上述2個閃爍器入射的上述伽馬射線的入射方向，并且

上述位置算出部根據方向與上述入射方向一致的上述伽馬射線的上述軌跡，算出上述通過位置。

7.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的2個上述閃爍器同時入射時：

算出表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高的比率，

算出在上述2個閃爍器的邊界上在深度方向按照上述比率分割上述閃爍器的位置而作為上述通過位置。

8.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述位置算出部在上述伽馬射線向毗鄰的3個上述閃爍器同時入射時：

算出表示由上述檢測器檢測的上述伽馬射線的能量的波高的比率，

分別算出作為上述3個閃爍器的各邊界上的各1點的、在深度方向按照上述比率分割上述閃爍器的位置而作為上述通過位置。

9.根據權利要求7所述的正電子CT裝置，其特征子在于：

上述位置算出部根據與毗鄰的上述2個閃爍器同時入射上述伽馬射線的其他閃爍器的位置，判別向上述毗鄰的上述2個閃爍器入射的上述伽馬射線的入射方向，

上述位置算出部求出表示向位于上述入射方向的前側的上述閃爍器入射的上述伽馬射線的能量的波高、與表示向上述入射方向的里側的上述閃爍器入射的上述伽馬射線的能量的波高的比率，并且

上述位置算出部算出在上述深度方向按照上述比率分割上述閃爍器的位置而作為上述通過位置。

10.根據權利要求1所述的正電子CT裝置，其特征在于：

上述閃爍器的深度方向的厚度為10mm以下。