[發明專利]太陽能電池組件中層壓件表面凹、凸缺陷檢測工具

無效

• 申請號: 201010156559.5
• 申請日: 2010-04-27
• 公開（公告）號: CN101832747A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 姜妍
• 申請（專利權）人: 常州億晶光電科技有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28;G01B5/02;G01B5/18
• 代理公司: 常州市維益專利事務所 32211
• 代理人: 周祥生

技術領域：

本發明涉及一種太陽能光伏組件的檢測工具，尤其涉及太陽能光伏組件生產過程中太陽能電池組件中層壓件表面凹、凸缺陷檢測工具。

背景技術：

太陽能電池產品因節能、環保、使用壽命長等優點在諸多行業得到使用。此類產品的設計使用壽命為25年，要確保產品達到如此長的使用期限，就需要嚴格控制太陽能電池組件的質量。在太陽能電池組件中，背板起著保護層壓件中的電池硅片的作用。在太陽能電池組件的生產過程中，背膜上有可能留有凹凸點，若凸出點或凹陷坑的尺寸超過標準值時，不僅會影響太陽能電池的使用壽命，而且直接影響到太陽能電池的使用安全性。造成背膜上存有凸出點或凹陷坑的原因很多，例如：層壓時有灰塵雜質進入、固化時高溫使得組件內的微小氣泡變大從而聚集并將背膜頂起、EVA收縮率問題、對電池串操作導致層壓前匯流帶已發生彎曲等會使背膜上產生凸出點；當高溫布或上蓋硅膠板上有EVA膠、背板太薄等都會在電池層件背面上出現凹陷坑。在檢查過程中，用手指對準凸出點向下按，若凸出點是軟的則說明是由氣泡引起的，這種缺陷是不能進入市場的，必須判定為不合格產品；若凸出點是硬的，則說明是由實物夾入所引起的，只要凸出點的高度不超過規定高度可以放行的；當存有凹陷坑時，且凹陷坑的深度超過標準值時，也不通過檢查。

目前，對于凸出點高度尺寸的檢查通常采用高度游標卡尺來測量，如圖1所示，所用高度游標卡尺由底座1、刻度尺2、尺框3、量爪4和緊固螺釘5組成，刻度尺2固定連接在底座1上，量爪4固定在尺框3上，尺框3套裝在刻度尺2上，緊固螺釘5旋接在尺框3上，用于鎖定尺框3在刻度尺2上所處的位置，便于操作讀取數據。測量時，先對高度游標卡尺進行校零，然后將高度游標卡尺的底座1平放在待檢查的太陽能電池組件的層壓件11上，移動尺框3使量爪4的底端接觸凸出點的頂部，擰緊尺框3上的緊固螺釘5，從高度游標卡尺上讀出實際測量尺寸。測量所得到的尺寸不一定就是凸出點的實際外凸出點的高度，因為高度游標卡尺有一個較大接觸面的底座1，測量時，應將較大接觸面的底座1放在層壓件上，當待測量的凸出點四周存在其它凸出點時，高度游標卡尺所測得的尺寸實質上是特測驗點與其周圍凸出點之間的相對高度尺寸，用這一測量數據作為判定依據，很不科學，會將不合格產品誤判為合格產品。對于存在凹陷坑的檢查，通常采用在凹陷坑中放入標準鋼球來判定，若鋼球高于凹陷坑，說明合格，可以放行，反之則判為不合格。總之，現有的檢測工具不能精確測定凸出點的高度，更不能測量凹陷坑的深度。

發明內容：

為了克服現有測量工具存在的上述缺點，本發明的目的是提供一種太陽能電池組件中層壓件表面凹、凸缺陷檢測工具，它既能精確測量層壓件表面存有凸出點的高度，又能精確測量出凹陷坑的深度。

本發明所采用的技術方案是：

所述太陽能電池組件中層壓件表面凹、凸缺陷檢測工具，其特征是：它包括刻度尺、折邊型測量桿和滑塊，在刻度尺的尺身上開有直線滑動軌道，在直線滑動軌道的一側設有尺寸刻度，立足端設置在刻度尺的下端，立足端的截面積為刻度尺的截面積的1/8～1/2；滑塊安裝在直線滑動軌道內，能在其內上下滑動；折邊型測量桿由橫桿、豎桿和測量探頭組成，橫桿和豎桿垂直連接為一體呈“7”字型，測量探頭設置在豎桿的底端，橫桿固定在滑塊上，測量探頭與刻度尺之間的水平距離為刻度尺寬度的1～5倍，當測量探頭底端與刻度尺的立足端處于同一平面時，橫桿的上邊線對準刻度尺的零刻度線處，在刻度尺的零刻度線處的上下兩側均標有尺寸刻度。

進一步，測量探頭截面形狀為帶圓弧的錐體狀；立足端的截面積為刻度尺的截面積的1/5。

這種太陽能電池組件中層壓件表面凹、凸缺陷檢測工具，既可以準確測量層壓件表面存有的凸出點高度，又能測量層壓件表面存有的凹陷坑的深度，由于刻度尺的下端的面積很小，更便于在待檢測凸出點或凹陷坑旁找到合適的位置，克服了現有高度游標卡尺底座接觸面積大而造成的測量誤差，即使待檢測的凸出點或凹陷坑四周存在別的凸出點時，只要找到適合刻度尺下端立足的地方就能對待檢測點進行準確測量。

由于刻度尺的立足端面積很小，即刻度尺與層壓件表面的接觸面積很小，可以避免待檢測點旁邊存有凸出點對測量結果的干擾，用本發明能測得凸出點的高度或凹陷坑的深度尺寸，能對待檢測缺陷進行量化表示，使得評判依據更客觀、更真實。

附圖說明：

圖1為用高度游際卡尺測量太陽能組件凹、凸缺陷點示意圖；

圖2為本發明處于零位狀態的示意圖；

圖3為本發明檢測狀態的示意圖；