[發明專利]修補方法以及主動元件陣列基板無效
| 申請號: | 201010156557.6 | 申請日: | 2010-04-07 |
| 公開(公告)號: | CN101813840A | 公開(公告)日: | 2010-08-25 |
| 發明(設計)人: | 蔡東璋 | 申請(專利權)人: | 友達光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 修補 方法 以及 主動 元件 陣列 | ||
技術領域
本發明關于一種主動元件陣列基板,且特別關于一種主動元件陣列基板的修補方法。
背景技術
針對多媒體社會的急速進步,多半受惠于半導體元件或人機顯示裝置的飛躍性進步。就顯示器而言,陰極射線管(Cathode?Ray?Tube,CRT)因具有優異的顯示品質與其經濟性,一直獨占近年來的顯示器市場。然而,對于個人在桌上操作多數終端機/顯示器裝置的環境,或是以環保的觀點切入,若以節省能源的潮流加以預測陰極射線管因空間利用以及能源消耗上仍存在很多問題,而對于輕、薄、短、小以及低消耗功率的需求無法有效提供解決之道。因此,具有高畫質、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優越特性的薄膜晶體管液晶顯示面板(TFT-LCD?panel)已逐漸成為市場主流,其中又以高解析度的薄膜晶體管液晶顯示面板備受關注。
在高解析度的薄膜晶體管液晶顯示面板中,掃描線數量的增加已成為趨勢,但為了顧及面板的開口率(aperture?ratio),在一般的高解析度的薄膜晶體管液晶顯示面板中,并無用以修補掃描線斷線的修補線設計,因此當掃描線發生斷線瑕疵(open?defect)時,面板多半需報廢,造成成本的大幅提高。
發明內容
本發明的目的在于在不影響開口率的情況下,對主動元件陣列基板進行修補。為此,本發明提供一種主動元件陣列基板的修補方法以及經過修補后的主動元件陣列基板。
本發明提供一種修補方法,其適于修補一主動元件陣列基板。主動元件陣列基板包括一基板、多條掃描線、多條數據線、多個主動元件、多個像素電極以及多條共通線,至少其中一條掃描線具有一斷線瑕疵(open?defect),掃描線與數據線彼此交錯以于基板上定義出多個子像素區域,主動元件與其中一條掃描線以及其中一條數據線電連接,各個像素電極位于其中一個子像素區域內,并與其中一個主動元件電連接。此修補方法包括:切除鄰近于斷線瑕疵的其中一條共通線,以形成一與共通線電絕緣的切除區塊;以及令切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件焊接,以使切除區塊與具有斷線瑕疵的掃描線電連接。
在本發明的一實施例中,前述的主動元件具有一柵極、一源極以及一漏極,源極與其中一條數據線電連接,漏極與其中一個像素電極電連接,而令切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件焊接的方法包括:令切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件的二漏極焊接。
在本發明的一實施例中,令切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件焊接的方法包括激光焊接(laser?welding)。
在本發明的一實施例中,切除鄰近于斷線瑕疵的其中一條共通線的方法包括激光切除工藝(laser?cutting)。
本發明提供一種主動元件陣列基板,其包括一基板、多條掃描線、多條數據線、多個主動元件、多個像素電極以及多條共通線。掃描線配置于基板上,且至少其中一條掃描線具有一斷線瑕疵。數據線配置于基板上,掃描線與數據線彼此交錯以于基板上定義出多個子像素區域。主動元件配置于基板上,并與其中一條掃描線以及其中一條數據線電連接。像素電極配置于基板上,各個像素電極位于其中一個子像素區域內,并分別與其中一個主動元件電連接。共通線配置于基板上,至少其中一條共通線具有一鄰近于斷線瑕疵的切除區塊,其中切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件焊接,以使切除區塊與具有斷線瑕疵的掃描線電連接。
在本發明的一實施例中,前述的各個主動元件具有一柵極、一源極以及一漏極,源極與其中一條數據線電連接,而漏極與其中一個像素電極電連接。
在本發明的一實施例中,前述的切除區塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側的二主動元件的二漏極焊接。
在本發明的一實施例中,前述的各個漏極分別與其中一條共通線重疊。
在本發明的一實施例中,前述的共通線位于像素電極下方。
基于上述,由于本發明將部分的共通線切除以作為修補線之用,因此本發明的修補方法可以在不影響開口率的情況下,對主動元件陣列基板進行修補。
附圖說明
圖1為本發明一實施例的主動元件陣列基板的示意圖。
圖2為圖1的主動元件陣列基板經過修補的后的示意圖。
附圖標號
100、100’:主動元件陣列基板
110:基板
120:掃描線
130:數據線
140:主動元件
140G:柵極
140S:源極
140D:漏極
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