[發明專利]主機板電氣測試結果數據分析方法無效
| 申請號： | 201010156289.8 | 申請日： | 2010-04-27 |
| 公開（公告）號： | CN102236058A | 公開（公告）日： | 2011-11-09 |
| 發明（設計）人： | 顏曉華 | 申請（專利權）人： | 佛山市順德區順達電腦廠有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 528308 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 主機板 電氣 測試 結果 數據 分析 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種數據分析方法，尤其涉及一種對主機板電氣測試結果數據進行分析的方法。
背景技術
目前在對ICT機臺或BFT機臺中產生的維修報表中的數據進行處理分析時，一般利用人工手動處理數據，由于數據量龐大，手動方式處理需要花費大量時間，且數據準確度及集中性難以保證。
發明內容
鑒于上述問題，本發明提供了一種主機板電氣測試結果數據分析方法。
為了達到上述目的，本發明采用了如下的技術方案：一種主機板電氣測試結果數據分析方法，其用以對ICT機臺或BFT機臺測試后的元件的不良數據進行分析，其中，該方法主要包括以下步驟：
步驟a.主機板經ICT機臺或BFT機臺測試后產生機臺數據，將產生的機臺數據按不良狀況的印刷電路板序列號對應的不良數據分離出來；
步驟b.將分離出來的不良數據按不良狀況分類，以獲知產生不良狀況的對應的不良時間及不良位置的數據，選擇該數據并進行樞紐分析；
步驟c.選擇產生二次不良狀況的不良時間及不良位置的數據，并進行樞紐分析，并計算直通率。
較佳的，本發明提供了一種主機板電氣測試結果數據分析方法，其中，所述步驟b中不良狀況主要包括短路、開路以及元件不良，所述步驟c中計算的直通率為不良元件總數與進行測試的元件總數的百分比。
相較于先前技術，本發明提供了一種主機板電氣測試結果數據分析方法，其自動對ICT機臺或BFT機臺測試后的元件的不良數據進行分析，不僅準確度得到保證，而且操作簡便，有效節約了時間及人力。
附圖說明
圖1為本發明所述方法的流程圖
具體實施方式
請參照圖1所示，為本發明所述主機板電氣測試結果數據分析方法，其用以對ICT機臺或BFT機臺測試后的元件的不良數據進行分析，其中，該方法主要包括以下步驟：
步驟101.主機板經ICT機臺或BFT機臺測試后產生機臺數據，將產生的機臺數據按不良狀況的印刷電路板序列號對應的不良數據分離出來；
步驟102.將分離出來的不良數據按不良狀況分類，以獲知產生不良狀況的對應的不良時間及不良位置的數據，選擇該數據并進行樞紐分析；
步驟103.選擇產生二次不良狀況的不良時間及不良位置的數據，并進行樞紐分析，并計算直通率。
其中，所述步驟102中的不良狀況主要包括短路、開路以及元件不良，所述步驟103中需計算的直通率為不良元件總數與進行測試的元件總數的百分比。
相較于先前技術，本發明提供了一種主機板電氣測試結果數據分析方法，其自動對ICT機臺或BFT機臺測試后的元件的不良數據進行分析，不僅準確度得到保證，而且操作簡便，有效節約了時間及人力。
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