[發(fā)明專利]防護(hù)鉛板內(nèi)置的X射線防護(hù)鉛房無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010156140.X | 申請(qǐng)日: | 2010-04-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101887035A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬單冬;袁霄宇;許占平;孫明光 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 丹東奧龍射線儀器有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/00 | 分類號(hào): | G01N23/00 |
| 代理公司: | 沈陽(yáng)杰克知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 21207 | 代理人: | 孫國(guó)瑞 |
| 地址: | 118009 遼寧省*** | 國(guó)省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 防護(hù) 鉛板 內(nèi)置 射線 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種檢測(cè)儀器射線防護(hù)裝置,具體說(shuō)涉及一種無(wú)損檢測(cè)用鉛房。
背景技術(shù)
X射線是一種穿透力極強(qiáng)的射線,其特性已被成熟駕馭,并被廣泛地應(yīng)用在裝備制造、儀器儀表、食品生產(chǎn)、醫(yī)療安檢等諸多領(lǐng)域。由于我國(guó)在該領(lǐng)域發(fā)展較晚,在儀器的設(shè)計(jì)、工藝、制造和應(yīng)用等環(huán)節(jié)與其它行業(yè)相比還存在著很大的差距,因?yàn)閄射線無(wú)損探傷儀器工作時(shí)產(chǎn)生的電離輻射會(huì)對(duì)接觸者產(chǎn)生危害,因此需對(duì)其加以有效的防護(hù)。目前廣泛采用的鉛房設(shè)計(jì)方案是將防護(hù)鉛條置于方管內(nèi)部,將方管搭接成整體框架后,外覆防護(hù)鉛板。這樣的方案無(wú)法在產(chǎn)品加工時(shí)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行有效地控制;外部防護(hù)鉛板的不平整造成門縫距離過(guò)大導(dǎo)致射線泄露;房?jī)?nèi)框架電纜接線器線槽等外露,且鉛房整體造型千篇一律不易變化,不美觀。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有鉛房存在的缺陷,本發(fā)明提供一種減小防護(hù)鉛板與防護(hù)鉛條的間隔距離,且可在不改變鉛房結(jié)構(gòu)的情況下對(duì)外觀進(jìn)行裝飾的防護(hù)鉛板內(nèi)置的X射線防護(hù)鉛房。
解決上述技術(shù)問(wèn)題所采取的具體技術(shù)措施是:一種防護(hù)鉛板內(nèi)置的X射線防護(hù)鉛房,其特征是:制造出整體框架,在整體框架內(nèi)固定防護(hù)鉛板,在防護(hù)鉛板相對(duì)于鉛房體的外側(cè)和整體框架之間接縫位置裝有接縫防護(hù)鉛條,在整體框架立柱外固定有裝飾條,在裝飾條上固定裝飾面板。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明克服了鉛房生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)品質(zhì)量不宜控制,鉛房防護(hù)鉛板不平整而導(dǎo)致的外觀缺陷,并可按不同客戶的要求對(duì)產(chǎn)品外觀進(jìn)行整體化個(gè)性化的裝飾。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的正面外觀示意圖;
圖2是圖1的A-A剖切俯視圖;
圖3是圖2的局部放大結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的結(jié)構(gòu)。
一種防護(hù)鉛板內(nèi)置的X射線防護(hù)鉛房,其結(jié)構(gòu)如圖1,圖2,圖3所示,按照整體設(shè)計(jì)用型鋼焊接制出整體框架4,在整體框架4內(nèi)固定防護(hù)鉛板1,用接縫防護(hù)鉛條2在防護(hù)鉛板1外側(cè)和整體框架4之間遮擋防護(hù)鉛板1之間的接縫。整體框架4的立柱上固定有金屬裝飾條5,在金屬裝飾條5上安裝裝飾面板3,裝飾面板可選擇木質(zhì)面板或塑料面板或鐵皮等材質(zhì)的面板。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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