[發(fā)明專利]一種閃存塊信息的重建方法、系統(tǒng)及重建設(shè)備

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010156127.4
• 申請(qǐng)日: 2010-04-21
• 公開（公告）號(hào): CN102237143A
• 公開（公告）日: 2011-11-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李志雄;鄧恩華;李中政
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市江波龍電子有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/04
• 分類號(hào): G11C29/04;G11C16/02
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 張全文

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種閃存塊信息的重建方法、系統(tǒng)及重建設(shè)備。

背景技術(shù)

閃存(Flash)的物理構(gòu)成是：每個(gè)封裝片內(nèi)包含一個(gè)或多個(gè)Dice(晶粒)；每個(gè)Dice中包含多個(gè)塊(Block)；每個(gè)塊中包含多個(gè)頁(yè)(Block)；每個(gè)頁(yè)中一般被用戶劃分成一個(gè)或多個(gè)扇區(qū)(Sector)。其中，每一個(gè)頁(yè)分成兩類存儲(chǔ)區(qū)域：有效數(shù)據(jù)區(qū)和冗余數(shù)據(jù)區(qū)，有效數(shù)據(jù)區(qū)一般用來(lái)存儲(chǔ)普通的數(shù)據(jù)；冗余數(shù)據(jù)區(qū)一般用來(lái)存放ECC(Error?Checking?and?Correcting，差錯(cuò)糾正)數(shù)據(jù)和其它數(shù)據(jù)。ECC數(shù)據(jù)是由普通數(shù)據(jù)生成的若干字節(jié)數(shù)據(jù)，通過(guò)該若干字節(jié)數(shù)據(jù)，可以在普通數(shù)據(jù)出錯(cuò)時(shí)，將普通數(shù)據(jù)糾正為正確的數(shù)據(jù)。

受閃存自身特性所限，對(duì)閃存的寫入(Program)必須以頁(yè)為單位，對(duì)閃存的擦除(Erase)必須以塊為單位。不同廠家對(duì)閃存所做的好壞塊信息標(biāo)記位置不同，但都是在冗余數(shù)據(jù)區(qū)。

閃存出廠前，廠家會(huì)對(duì)每個(gè)塊做標(biāo)記，指明該塊是好塊還是壞塊，即為“好壞塊信息標(biāo)記”。受閃存物理使用方法的限制，在閃存使用過(guò)程中，該標(biāo)記信息很容易被破壞，導(dǎo)致再次使用閃存時(shí)就沒有了該參考信息，或參考信息不準(zhǔn)確，以致閃存不能被正確使用。

目前，對(duì)于已經(jīng)使用過(guò)的閃存，可以使用生產(chǎn)設(shè)備對(duì)閃存進(jìn)行好壞塊的識(shí)別，識(shí)別方法是逐個(gè)對(duì)塊執(zhí)行數(shù)據(jù)的擦除、寫入和讀出校驗(yàn)的識(shí)別操作，對(duì)塊進(jìn)行逐個(gè)標(biāo)記。

但是，對(duì)某些不穩(wěn)定的閃存來(lái)說(shuō)，上述對(duì)閃存塊逐個(gè)標(biāo)記的識(shí)別效果比較差，如果對(duì)某個(gè)塊擦除、寫入數(shù)據(jù)之后，讀出數(shù)據(jù)，檢測(cè)寫入和讀出的數(shù)據(jù)是一樣的，則將該塊標(biāo)記為好塊，對(duì)于某些不穩(wěn)定的閃存的各個(gè)塊之間的數(shù)據(jù)容易互相影響，在沒有對(duì)其它塊寫入數(shù)據(jù)以前，當(dāng)前塊沒有出現(xiàn)問(wèn)題不能說(shuō)明該塊是一個(gè)好塊，所以對(duì)于不穩(wěn)定的閃存，上述對(duì)閃存塊進(jìn)行逐個(gè)標(biāo)記的識(shí)別好壞塊信息存在缺陷。

而且，對(duì)于制造方來(lái)說(shuō)，其考慮的首要因素是制造設(shè)備，不會(huì)考慮設(shè)備中的閃存會(huì)不會(huì)被重復(fù)利用，當(dāng)閃存已經(jīng)被焊接設(shè)備中，在執(zhí)行識(shí)別好壞塊的操作完成后，設(shè)備立即在閃存中寫入專供設(shè)備使用的信息，由于該信息是專供設(shè)備使用的，制造方一般將該信息所在的塊標(biāo)記為壞塊；另外很多設(shè)備制造方可能做出符合自己定義的好壞塊標(biāo)記信息。因此，即使其他閃存使用者需要重新使用該閃存，也需要首先將閃存拆下、清洗，重新做好壞塊識(shí)別，過(guò)程相當(dāng)繁瑣，況且很多閃存使用者并不具備重新對(duì)閃存進(jìn)行好壞塊識(shí)別和標(biāo)記的技術(shù)。

綜上可知，現(xiàn)有的對(duì)閃存塊信息的逐個(gè)識(shí)別方式存在較大的缺陷，不能準(zhǔn)確對(duì)好壞塊進(jìn)行識(shí)別標(biāo)記，閃存資源利用率較低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種閃存塊信息的重建裝置，旨在解決現(xiàn)有的對(duì)閃存塊信息的逐個(gè)識(shí)別方式存在較大的缺陷，不能準(zhǔn)確對(duì)好壞塊進(jìn)行識(shí)別標(biāo)記，閃存資源利用率較低的問(wèn)題。

本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種閃存塊信息的重建方法，所述方法包括下述步驟：

控制擦除閃存所有塊上的數(shù)據(jù)；

根據(jù)預(yù)先配置的默認(rèn)的閃存塊信息的重建級(jí)別或用戶對(duì)所述閃存塊信息的重建級(jí)別的配置信息，同時(shí)在閃存內(nèi)的塊寫入檢測(cè)數(shù)據(jù)；

當(dāng)寫完檢測(cè)數(shù)據(jù)后，讀出塊內(nèi)的數(shù)據(jù)；

對(duì)讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)驗(yàn)證，并根據(jù)檢測(cè)驗(yàn)證結(jié)果在冗余數(shù)據(jù)區(qū)標(biāo)記好壞塊信息。

本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種閃存塊信息的重建系統(tǒng)，所述方法包括下述步驟：

數(shù)據(jù)擦除模塊，用于控制擦除閃存所有塊上的數(shù)據(jù)；

檢測(cè)數(shù)據(jù)寫入模塊，用于根據(jù)預(yù)先配置的默認(rèn)的閃存塊信息的重建級(jí)別或用戶對(duì)所述閃存塊信息的重建級(jí)別的配置信息，同時(shí)在閃存內(nèi)的塊寫入檢測(cè)數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù)讀出模塊，用于當(dāng)所述檢測(cè)數(shù)據(jù)寫入模塊寫完檢測(cè)數(shù)據(jù)后，控制器讀出塊內(nèi)的數(shù)據(jù)；

檢測(cè)驗(yàn)證模塊，用于對(duì)所述數(shù)據(jù)讀出模塊讀出的數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)驗(yàn)證；以及

標(biāo)記模塊，用于根據(jù)所述檢測(cè)驗(yàn)證模塊的檢測(cè)驗(yàn)證結(jié)果在冗余數(shù)據(jù)區(qū)標(biāo)記好壞塊信息；

提示模塊，用于提示開機(jī)時(shí)的默認(rèn)的閃存塊信息重建級(jí)別以及對(duì)閃存塊信息重建的進(jìn)度；以及

閃存卡位座單元，用于固定連接需進(jìn)行塊信息重建的閃存。。

本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于提供一種包括閃存塊信息的重建系統(tǒng)的重建設(shè)備。