[發明專利]一種基于模型的PCB缺陷檢測方法

無效

• 申請號: 201010154365.1
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN101825581A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發明（設計）人: 程良倫;陳偉
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06K9/36
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 林麗明

1.一種基于模型的PCB缺陷檢測方法，包括如下步驟：

對待檢PCB板建模：輸入待檢圖片和模型圖片，建立他們之間的配準信息，對圖片進行預處理；

對PCB圖像壓縮為RLE數據；

對壓縮后的圖像進行小波變換；

對變換后圖像進行差分運算，得到差分圖形的直方圖，從此直方圖中提取圖像特征進行識別。

2.根據權利要求1所述的基于模型的PCB缺陷檢測方法，其特征在于：對任意函數f的積分小波變換為：

fψ(a,b)=∫-∞∞f(t)1aψ(t-ba)dt]]>

上述w是一個固定的函數稱為基函數；參數a稱為膨脹因子，并且有一個大于零的常量；b是一個實數，為平移因子。

3.根據權利要求1所述的基于模型的PCB缺陷檢測方法，其特征在于所述小波變換計算是通過對圖像行或列濾波的連續卷積；在第一階變換之后，輸入的圖像被分解為4部分：近似(LL1)，水平(LH1)，垂直(HL1)，對角(HH1)，每一部分為原來輸入圖像的四分之一；然后對近似(LL1)部分進行同樣的小波變換直到想要的階數。

4.根據權利要求1至3任一項所述的基于模型的PCB缺陷檢測方法，其特征在于所述小波變換為二階哈爾小波變換。