[發明專利]用于測量流體成分與特性的試片、裝置及其相關系統有效
| 申請號: | 201010151650.8 | 申請日: | 2010-04-14 |
| 公開(公告)號: | CN102221573A | 公開(公告)日: | 2011-10-19 |
| 發明(設計)人: | 曾朝滿 | 申請(專利權)人: | 凱健企業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N27/30 | 分類號: | G01N27/30 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁揮;張燕華 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測量 流體 成分 特性 試片 裝置 及其 相關 系統 | ||
1.一種用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,包含:
一樣本接收部;
多個與該樣本接收部相交并于一電極面延伸的電極;以及
一與該電極面夾有角度的接觸面,其包括多個接點,適于在一該接觸面的法線方向被推抵向一連接器時,與該連接器傳導地連接。
2.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,這些接點被調整大小并被間隔,以將該試片相關的信息編碼。
3.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,這些接點中被選擇的一些接點被絕緣,以將該試片相關的信息編碼。
4.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,這些電極沿著一電極面延伸,以及該接觸面與該電極面互相垂直。
5.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,這些接點為平面的。
6.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,該接觸面與該電極面互相垂直。
7.根據權利要求1所述的用以測量一樣本性質的試片,其特征在于,該樣本接收部為一流體腔的形式。
8.一種使用一用以測量一樣本性質的試片的裝置,其中該試片包括多個在一電極面與一樣本接收部相交的電極,以及一與該電極面垂直的接觸面,其包括多個平面接點,其特征在于,該裝置包含:
一連接器,適于在該試片于該接觸面的一法線方向被推抵向該連接器時,與這些平面接點傳導地連接;
一處理器;以及
一電路板,其包括多個將該處理器與該連接器互相連接的導電路徑,借此在這些平面接點與該連接器連接時,由該處理器登記與該試片相關的信息,并根據需求修正計算。
9.根據權利要求8所述的使用一用以測量一樣本性質的試片的裝置,其特征在于,該連接器為一彈性連接器。
10.根據權利要求9所述的使用一用以測量一樣本性質的試片的裝置,其特征在于,該連接器被放置于一被調整大小并被設定以接收該試片的插槽內。
11.根據權利要求10所述的使用一用以測量一樣本性質的試片的裝置,其特征在于,該插槽包括多個電極接點,每一電極接點用以傳導地連接一對應的電極。
12.一種用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,包含:
一試片,包括:
一樣本接收部;
多個沿著一電極面延伸并與該樣本接收部相交的電極;以及
一與該電極面互相垂直并包括多個平面接點的接觸面;以及
一裝置,包括:
一連接器,適于在該試片于該接觸面的一法線方向被推抵向該連接器時,與這些平面接點傳導地連接;
一處理器;以及
一電路板,其包括多個將該處理器與該連接器互相連接的導電路徑,借此在這些平面接點與該連接器連接時,由該處理器登記與該試片相關的信息,并根據需求修正計算。
13.根據權利要求12所述的用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,這些接點被調整大小并被間隔,以將該試片相關的信息編碼。
14.根據權利要求12所述的用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,這些接點中被選擇的一些被絕緣,以將該試片相關的信息編碼。
15.根據權利要求12所述的用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,該連接器為一彈性連接器。
16.根據權利要求15所述的用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,該連接器被放置于一被調整大小并被設定以接收該試片的插槽內。
17.根據權利要求16所述的用以測量一樣本性質的系統,其特征在于,該插槽包括多個電極接點,每一電極接點用以傳導地連接一對應的電極。
18.一種用以檢測一樣本性質的試片,其特征在于,包含:
一樣本接收部;
一接觸面,其包括多個接點,適于在一該接觸面的法線方向被推抵向一連接器時,與該連接器傳導地連接,其中這些接點用以將該試片相關的信息編碼,并根據需求修正計算。
19.根據權利要求18所述的用以檢測一樣本性質的試片,其特征在于,該試片為一電化學試片。
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