[發明專利]太赫茲波快速成像掃描裝置

無效

• 申請號: 201010150731.6
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN101832912A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 張存林;鄧朝;趙躍進;朱維文;張雅琳
• 申請（專利權）人: 首都師范大學;北京理工大學
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G02B26/10
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;賀華廉

1.一種太赫茲波快速成像掃描裝置，用于掃描待掃描物，其特征在于，包括

幀掃鏡組，位于待掃描物后，用以縱向掃描待掃描物；

行掃鏡組，設于幀掃鏡組后的光路上，用以橫向掃描待掃描物；

凹面鏡，位于行掃鏡組后的光路上，以會聚太赫茲波；

太赫茲波探測器，位于凹面鏡后的光路上，接收掃描信號。

2.如權利要求1所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述幀掃鏡組為一個可旋轉的俯仰平面鏡，所述俯仰平面鏡與水平面成一定角度設置，所述俯仰平面鏡的旋轉軸平行于水平面。

3.如權利要求2所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述行掃鏡組包括可旋轉的第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡，所述第一對轉平面鏡位于所述俯仰平面鏡下方，所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡相對設置，且均與水平面成一定角度，使得從所述第一對轉平面鏡反射出的太赫茲波能夠到達第二對轉平面鏡，并經所述第二對轉平面鏡反射到所述凹面鏡上；

所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡的旋轉軸位于所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡的法線所在的平面內，且所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡的旋轉軸分別位于各自法線的不同側，與各自法線成角度θ₁和θ₂，所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡繞各自旋轉軸的旋轉方向相反且轉速相同。

4.如權利要求3所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述角度θ₁和θ₂滿足關系式L₁×tg2θ₁＝L₂×tg2θ₂，其中L₁是所述第一對轉平面鏡到待掃描物的距離，L₂是所述第二對轉平面鏡到待掃描物的距離。

5.如權利要求1所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述幀掃鏡組沿光路方向包括依次設置的第一平面鏡、第二平面鏡和第三平面鏡，所述第一平面鏡和所述第二平面鏡與水平面均成一定角度設置，所述第二平面鏡位于所述第一平面鏡下方，將從所述第一平面鏡的光線反射到所述第三平面鏡，所述第三平面鏡與水平面垂直設置，將所述第二平面鏡的光線反射到所述行掃鏡組，所述第一平面鏡可旋轉，其旋轉軸平行于水平面。

6.如權利要求5所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述行掃鏡組包括與水平面垂直的第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡，所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡相對設置，使得從所述第一對轉平面鏡反射出的光線能夠到達第二對轉平面鏡，并經所述第二對轉平面鏡反射到所述凹面鏡上，所述凹面鏡與水平面垂直；

所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡的旋轉軸位于所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡和法線所在的平面內，且所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡的旋轉軸分別位于各自法線的不同側，與各自法線成一定角度，所述第一對轉平面鏡和第二對轉平面鏡繞各自旋轉軸的旋轉方向相反且轉速相同。

7.如權利要求3或6所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述幀掃鏡組固定在能夠轉動的旋轉底座上，以將所述待掃描物分成兩部分分別進行掃描。

8.如權利要求7所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述太赫茲波探測器連接計算機，在所述計算機內進行圖像重構和顯示。

9.如權利要求8所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述掃描裝置還包括發射太赫茲波的外部光源，所述外部光源設置于所述幀掃鏡組的上方。

10.如權利要求9所述的太赫茲波快速成像掃描裝置，其特征在于，所述太赫茲波探測器為能夠發射并接收太赫茲波的太赫茲波收發探測器。