[發明專利]一種低頻率信號的相位差測量方法

無效

• 申請號: 201010150138.1
• 申請日: 2010-04-15
• 公開（公告）號: CN101813725A
• 公開（公告）日: 2010-08-25
• 發明（設計）人: 戴爾晗;趙元正;孫海安;林玲
• 申請（專利權）人: 南京郵電大學
• 主分類號: G01R25/00
• 分類號: G01R25/00
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 許方

技術領域

本發明涉及低頻率信號的相位差測量技術，低頻率信號包含但不僅限于民用交流 電。

背景技術

在日常生活、生產過程中常常需要測量低頻率信號的相位差，測量的相位差越準確， 應用的效果往往更好。在現有的相位差測量方法中，大多數采用將信號轉變成方波，然 后測量兩個方波之間上升沿的時間差，從而得出兩個信號的相位差，但這種算法易于實 現但需要額外的硬件，且容易受到干擾的影響。

發明內容

發明目的：

本發明的主要目的就是解決現有技術中低頻率信號的相位差測量精度不夠準確，提 出了一種低頻率信號的相位差測量方法。

技術方案：

為實現上述發明目的，本發明提出了一種低頻率信號的相位差測量方法，包括以下 步驟：

步驟1)，對低頻率信號進行采樣，得到一段時間內低頻率信號的采樣值；

步驟2)，根據步驟1)得到的采樣值，在低頻率信號由低向高變化時的零點附近選 擇n個采樣點，擬合一條直線，設該直線與時間軸的交點為過零點，n≥2；

步驟3)，根據步驟2)得到的一系列過零點，計算信號的周期；

步驟4)，根據不同信號的過零點時間的差異和步驟3)得到的信號的周期，計算得 到信號之間的相位差。

進一步的，本發明的低頻率信號的相位差測量方法中步驟1)所述的采樣是等時間 間隔采樣或不等時間間隔采樣。

進一步的，本發明的低頻率信號的相位差測量方法中步驟1)所述的采樣為對整周 波進行采樣。

進一步的，本發明的低頻率信號的相位差測量方法中步驟2)中確定波形的過零點 包括以下步驟：

2-1)在低頻率信號的由低向高變化時的零點附近選擇任意組合的若干個采樣點， 選出的采樣點的采樣值全部為正，或全部為負，或根據需要選擇若干個采樣值為正、若 干個采樣值為負的采樣點；

2-2)根據選出的若干個采樣點擬合一條直線，該直線與時間軸的交點為過零點。

進一步的，本發明的低頻率信號的相位差測量方法中步驟3)具體包括以下步驟：

3-1)在信號的第j個由低向高變化時的零點附近選擇若干個采樣點之后，假設選 取的采樣點數為n，每個采樣點的采樣時間為t_i，采樣值為y_i，則