[發明專利]線路檢測結構和線路檢測方法

有效

• 申請號: 201010149556.9
• 申請日: 2010-04-09
• 公開（公告）號: CN102213739A
• 公開（公告）日: 2011-10-12
• 發明（設計）人: 黃賢軍;李雄平;田凱
• 申請（專利權）人: 上海天馬微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種平板顯示裝置的線路檢測結構，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上設有驅動線，所述線路檢測結構包括：

第一驅動線檢測結構，用于檢測所述驅動線是否存在線缺陷，包括第一驅動線短路棒和第一驅動線測試端子；所述第一驅動線短路棒與所述驅動線通過過孔結構連接；所述第一驅動線測試端子與所述第一驅動線短路棒連接，提供測試信號至驅動線；

第二驅動線檢測結構，用于確定所述驅動線的線缺陷的缺陷類型，包括第一驅動控制線、第一驅動線控制開關、第一驅動線控制端子、第二驅動線短路棒和第二驅動線測試端子；所述第一驅動控制線與所述第一驅動線控制開關和所述第一驅動線控制端子相連接，所述第一驅動線控制端子通過所述第一驅動控制線提供控制信號至所述第一驅動線控制開關；所述第一驅動線控制開關與所述驅動線和所述第二驅動線短路棒連接，控制所述驅動線和所述第二驅動線短路棒的通斷；所述第二驅動線測試端子與所述第二驅動線短路棒連接，提供測試信號至所述驅動線。

2.根據權利要求1所述的線路檢測結構，其特征在于，還包括：

驅動線斷開結構，包括第二驅動控制線、第二驅動線控制端子和第二驅動線控制開關；所述第二驅動控制線與所述第二驅動線控制端子和所述第二驅動線控制開關相連接，所述第二驅動線控制端子通過所述第二驅動控制線提供控制信號至所述第二驅動線控制開關；所述第二驅動線控制開關與所述驅動線和所述第一驅動線檢測結構和/或第二驅動線檢測結構相連接，控制所述驅動線和所述第一驅動線檢測結構和/或第二驅動線檢測結構的通斷。

3.根據權利要求1所述的線路檢測結構，其特征在于，所述第一驅動線短路棒的數量為一個或多個。

4.根據權利要求1所述的線路檢測結構，其特征在于，所述過孔結構包括過孔和位于所述過孔內的導電介質。

5.根據權利要求4所述的線路檢測結構，其特征在于，所述導電介質包括銦錫金屬氧化物或銦鋅金屬氧化物。

6.根據權利要求2所述的線路檢測結構，其特征在于，所述第一驅動線控制開關和第二驅動線控制開關包括薄膜晶體管。

7.根據權利要求1所述的線路檢測結構，其特征在于，所述驅動線存在的線缺陷的類型包括過孔結構損壞導致的線缺陷和線路劃傷導致的線缺陷。

8.根據權利要求1所述的線路檢測結構，其特征在于，所述驅動線為掃描線或數據線。

9.一種平板顯示裝置的線路檢測結構，所述平板顯示裝置包括陣列基板，在所述陣列基板上具有交叉排列的掃描線和數據線，所述線路檢測結構包括：

第一掃描線檢測結構，用于檢測所述掃描線是否存在線缺陷，包括第一掃描線短路棒和第一掃描線測試端子；所述第一掃描線短路棒與所述掃描線通過過孔結構連接；所述第一掃描線測試端子與所述第一掃描線短路棒連接，提供測試信號至掃描線；

第一數據線檢測結構，用于檢測所述數據線是否存在線缺陷，包括第一數據線短路棒和第一數據線測試端子；所述第一數據線短路棒與所述數據線通過過孔結構連接；所述第一數據線測試端子與所述第一數據線短路棒連接，提供測試信號至數據線；

第二掃描線檢測結構，用于確定所述掃描線存在的線缺陷的缺陷類型，包括第一掃描控制線、第一掃描線控制開關、第一掃描線控制端子、第二掃描線短路棒和第二掃描線測試端子；所述第一掃描控制線與所述第一掃描線控制開關和所述第一掃描線控制端子相連接，所述第一掃描線控制端子通過所述第一掃描控制線提供控制信號至所述第一掃描線控制開關；所述第一掃描線控制開關與所述掃描線和第二掃描線短路棒連接，控制所述掃描線和所述第二掃描線短路棒的通斷；所述第二掃描線測試端子與所述第二掃描線短路棒連接，提供測試信號至掃描線；

第二數據線檢測結構，用于確定所述數據線存在的線缺陷的缺陷類型，包括第一數據控制線、第一數據線控制開關、第一數據線控制端子、第二數據線短路棒和第二數據線測試端子；所述第一數據控制線與所述第一數據線控制開關和所述第一數據線控制端子相連接，所述第一數據線控制端子通過所述第一數據控制線提供控制信號至所述第一數據線控制開關；所述第一數據線控制開關與所述數據線和第二數據線短路棒連接，控制所述數據線和所述第二數據線短路棒的通斷；所述第二數據線測試端子與所述第二數據線短路棒連接，提供測試信號至數據線。