[發明專利]叢集硬盤自動化測試方法及其系統

無效

• 申請號: 201010148566.0
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN102222517A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發明（設計）人: 陳興平;張曉文;陳萬福
• 申請（專利權）人: 昆達電腦科技（昆山）有限公司;神達電腦股份有限公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本發明是有關于一種叢集硬盤自動化測試方法及其系統，特別是有關于一種具有三階層結構化的叢集硬盤自動化測試的方法及運用此方法構成的叢集硬盤自動化測試系統。

【背景技術】

計算機硬盤的數據接口主要為ATA(Advanced?Technology?Attachment)或SATA(Serial?Advanced?Technology?Attachment)及SCSI(小型計算機系統接口Small?Computer?System?Interface或SAS，Serial?Attached?SCSI)，當計算機裝上硬盤時，應使用對應于數據接口的工具進行硬盤的測試，例如使用SCSI測試工具對SCSI硬盤進行測試。

SCSI在1980年代早期推出，1986年成為標準并沿用至今，在儲存裝置如硬式磁盤驅動器中，SCSI硬盤廣為工作站級個人計算機以及服務器所使用，因為它的轉速快，且數據傳輸時占用CPU運算資源較低。SCSI接口則藉由設定獨一無二的數字地址，或稱SCSI?ID，來辨別所有裝置。SCSI總線上的所有裝置，都必須事先設定SCSI?ID(通常是透過跳線，或切換開關)。當計算機裝上SCSI總線，就需要對這些SCSI上的各個裝置進行測試，例如進行讀取速度、瞬間速度、隨機存取時間、平均讀取速度以及CPU使用率等測試項目。例如，SCSI硬式磁盤驅動器(以下簡稱SCSI硬盤)制造出廠前更要經過在不同自身溫度與環境溫度下的最大輸出入(IO)能力(速度)、反應時間及CPU使用率等的測試；其它不同的數據接口，也有類似的測試需求。

再如，若SCSI硬盤以數組排列(array?SCSI?HD)時，風扇轉動會造成SCSI硬盤數組的機架產生震動，因此，SCSI硬盤需先在不同的風扇轉速下進行機架內硬盤的轉動震動測試(Rotational?Vibration?test)，以確保機架的機構設計在風扇旋轉(及其它相鄰硬盤的旋轉)所造成的機架震動下，仍能讓硬盤的存取效能在合理范圍之內；在測試時，須使用風扇轉速模型(fan?speed?pattern)對每個SCSI硬盤進行測試，測試循環(test?loop)相當繁復，所花費的時間很長。更，若SCSI硬盤以叢集排列(Clustered?SCSI?HD)時，操作人員的操作困難度更以倍數成長。

在現有技術上，如美國專利公開號揭示US2008/0074107揭示使用按鍵控制器，以選擇對硬盤數組選定硬盤進行測試，然而這種測試需要較多的人工依序測試。又如臺灣專利495085對揭示磁盤陣列測試的方法，如圖1，對于多個磁盤(81a、81b、81c…81n)經由總線排線連接至控制電路基板83，由控制電路基板83連接至計算機系統82，控制電路基板83的控制電路可以檢測磁盤功能(含溫度高低、各磁盤好壞、訊號是否正常等)，以增加組裝上的便利性。對于其它的進階應用，如圖1及圖2，在計算機系統82設有多個測試程序(821a、821b、821c…821n)，經由總線排線對磁盤(81a、81b、81c…81n)進行檢測；然而這些的測試方法都需要由操作人員分別選定磁盤驅動器進行測試、監控與記錄，仍是相當耗費人力的工作。

對于采取自動化的檢測上，臺灣專利I230857揭示使用高階操作系統以自動化測試主機板，如圖3，服務器911裝有高階操作系統，高階操作系統則含有各種測試程序及批次文件，服務器911經由多任務器921連接于待測計算機912，待測主機板9121安裝于待測計算機912中，每一待測計算機912有一軟盤9122、硬盤9123及一網絡卡9124。操作時，由操作人員選擇待測主機板9121測試項目，進行測試完成后，將測試結果送至服務器儲存。這種測試方法可由高階操作系統對各別計算機912主機板9121進行一次一對一的測試，但若應用于硬盤數組的反復測試則仍需要大量的人工。臺灣專利I303765則揭示使用多個緩沖器分別接收磁盤陣列檢測并暫存磁盤陣列檢測數據，再藉由輸出選擇器選擇其中一個緩沖器，將檢測數據傳輸至計算機中進行記錄；然而此種方法雖可以處理一次多個硬盤的測試，但對于反復多個模式的測試，則需要更多倍的緩沖器，雖有減少部份人工，但多量的緩沖器及硬件聯機，更顯復雜。

如前所述，當進行數組硬盤測試時，尤其在服務器的機架上裝設有叢集硬盤，在叢集硬盤測試時，測試循環(test?loop)相當繁復，因此如何以自動化執行測試計劃(testing?plan)，自動檢測記錄，并更進一步產生分析報表，則為迫切所需。

【發明內容】