[發明專利]接口測試輔助裝置

無效

• 申請號: 201010147729.3
• 申請日: 2010-04-15
• 公開（公告）號: CN102222030A
• 公開（公告）日: 2011-10-19
• 發明（設計）人: 黃立人;范朝宗
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種接口測試輔助裝置，特別涉及一種串行連接小型計算機系統接口(Serial?Attached?Small?Computer?SystemInterface；簡稱SAS接口)的接口測試輔助裝置。

背景技術

現今主機板的硬盤接口已漸漸從并行式ATA(AdvancedTechnology?Attachment，高階配置)接口演變成傳輸速度較快的SAS接口，以提高計算機的效能。

主機板在裝配完成之后，需經過全面的功能測試，其中包括對主機板上各種接口的測試。在對主機板的SAS接口進行測試時，通常是通過連接SAS硬盤至主機板的SAS接口來進行測試。但由于硬盤的價格一般較高，而且在受到震動時也容易損壞硬盤，從而影響測試結果。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種能夠替代SAS硬盤來測試主機板的接口測試輔助裝置。

一種接口測試輔助裝置，該接口測試輔助裝置用于輔助測試一待測板上的SAS接口。所述接口測試輔助裝置包括一內存、一供電單元、一處理器以及至少一用于連接所述待測板上的SAS接口的測試SAS接口。所述供電單元為所述內存及所述處理器供電，所述內存與所述處理器相連，所述處理器與所述測試SAS接口相連，所述處理器用于通過所述測試SAS接口與待測板上的SAS接口接收來自待測板的串行數據并轉換成并行數據寫入所述內存，以及讀出內存內的數據并轉換成串行數據從所述測試SAS接口與待測板上的SAS接口輸出給待測板。

本發明提供的接口測試輔助裝置通過利用不會受震動影響的內存來代替測試用SAS硬盤，從而能夠避免因震動而影響測試效果的情況發生，并可降低測試成本。

附圖說明

圖1為本發明實施方式的接口測試輔助裝置與待測板連接的示意圖。

主要元件符號說明

接口測試輔助裝置???????????????100

承載體?????????????????????????10

內存???????????????????????????20

內存插槽???????????????????????30

處理器?????????????????????????40

供電單元???????????????????????50

電源接口???????????????????????51

第一輸入端?????????????????????510

第二輸入端?????????????????????511

第一輸出端?????????????????????512

第二輸出端?????????????????????513

電壓轉換器?????????????????????52

測試SAS接口????????????????????60

待測板?????????????????????????200

待測板SAS接口??????????????????210

數據線?????????????????????????8

電源線?????????????????????????9

第一電壓源?????????????????????V1

第二電壓源?????????????????????V2

具體實施方式

請參閱圖1，為本發明提供的接口測試輔助裝置100。該接口測試輔助裝置100用于代替SAS硬盤來測試一待測板200上的待測板SAS接口210。本實施方式中，所述待測板200是計算機的主機板。所述待測板200內裝載有一測試程序。所述待測板200上包括第一電壓源V1及第二電壓源V2。本實施方式中，所述第一電壓源V1提供5V的電壓，所述第二電壓源V2提供3.3V的電壓。所述接口測試輔助裝置100包括承載體10、內存20、內存插槽30、處理器40、供電單元50以及一用于連接所述待測板SAS接口210的測試SAS接口60。所述測試SAS接口60數量還可以為多個，以同時測試待測板200上多個待測板SAS接口。

所述內存20插于所述內存插槽30上，所述內存插槽30與所述處理器40連接，所述處理器40與所述測試SAS接口60連接。所述供電單元50分別與所述內存插槽30及處理器40連接，從而為處理器40及插于所述內存插槽30上的內存20供電。

本實施方式中，所述承載體10是一電路板。所述內存插槽30、處理器40、供電單元50及測試SAS接口60集成于所述承載體10上。