[發(fā)明專利]電觸頭及具有該電觸頭的檢查夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010147576.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-03-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101900750A | 公開(公告)日: | 2010-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 土橋賢治;小泉茂昭;伊藤光彥;兩角和彥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社光陽科技 |
| 主分類號(hào): | G01R1/067 | 分類號(hào): | G01R1/067;G01R31/02 |
| 代理公司: | 上海旭誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31220 | 代理人: | 鄭立 |
| 地址: | 日本國長(zhǎng)野*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電觸頭 具有 檢查 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及的是檢查電路板或電子零部件等的電特性用的電觸頭及具有該電觸頭的檢查夾具。
背景技術(shù)
一般來說,用于發(fā)現(xiàn)電路板的配線圖案或IC等集成電路的短路或斷線等的異常的電氣檢查中,使用具有與檢查對(duì)象物接觸的多個(gè)電觸頭的檢查夾具。作為電觸頭,廣泛地使用例如如專利文獻(xiàn)1或2所公開那樣利用螺旋彈簧支持針狀的柱塞(plunger)的構(gòu)成的電觸頭。在這種構(gòu)成的電觸頭中,柱塞能夠通過螺旋彈簧的彈性變形,而相對(duì)于檢查對(duì)象物彈性地進(jìn)退。因此,能夠以適當(dāng)?shù)陌磯毫κ怪佑|于檢查對(duì)象物。
專利文獻(xiàn)1:日本公開公報(bào)、特開2008-275421號(hào)
專利文獻(xiàn)2:日本公開公報(bào)、特開2008-546164號(hào)
發(fā)明內(nèi)容
但是,在專利文獻(xiàn)1和2記載的電觸頭中,電觸頭由柱塞和螺旋彈簧等的多個(gè)零部件構(gòu)成。因此,容易發(fā)生各零部件之間的接觸不良的故障,另外,由于零部件件數(shù)和組裝工時(shí)多而存在生產(chǎn)成本變高的問題。
因此,本發(fā)明的目的在于提供不容易發(fā)生接觸不良的故障,而且,能夠抑制生產(chǎn)成本的電觸頭及具有該電觸頭的檢查夾具。
為了解決上述課題,本發(fā)明的電觸頭,利用于檢查檢查對(duì)象物的電特性的檢查夾具,配置在檢查夾具的收容孔的內(nèi)部,其中,電觸頭由線材構(gòu)成,同時(shí),具有:配置在電觸頭的長(zhǎng)度方向的一端側(cè)、與檢查對(duì)象物接觸的檢查側(cè)端部,相對(duì)于該一端側(cè)而配置于另一端側(cè)、與檢查夾具的接點(diǎn)接觸的夾具側(cè)端部,以及連接檢查側(cè)端部和夾具側(cè)端部、且收容在收容孔的主體部;主體部具有線材卷繞成螺旋狀而具有彈性的彈簧部。
在本發(fā)明的電觸頭中,檢查側(cè)端部或夾具側(cè)端部的至少一方,也可以卷繞線材而構(gòu)成為彈簧狀。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,檢查側(cè)端部或夾具側(cè)端部的至少一方上,線材被卷繞成其卷徑朝向前端而變小也可以。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,也可以在檢查側(cè)端部或夾具側(cè)端部的至少一方的前端部上,形成有沿著被卷繞的線材的卷軸而延伸的柱狀部。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,也可以在檢查側(cè)端部或夾具側(cè)端部的至少一方的前端部上,設(shè)有球狀部。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,檢查側(cè)端部或夾具側(cè)端部的至少一方,也可以形成為從電觸頭的端部側(cè)向主體部側(cè)折返的折返部。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,主體部上,在彈簧部和檢查側(cè)端部之間,也可以具有線材彼此之間貼緊而被卷繞的壓緊卷繞部。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,主體部的彈簧部的一部分,具有卷徑大于彈簧部的其他部分的卷徑的大直徑部、從而被壓入收容孔。
另外,在本發(fā)明的電觸頭中,電觸頭被鍍金覆蓋也可以。
為了解決上述課題,本發(fā)明的檢查夾具,使電觸頭接觸于檢查對(duì)象物,而檢查檢查對(duì)象物的電特性,其中,設(shè)有具有收容電觸頭的收容孔的收容體,作為電觸頭具有上述的電觸頭。
為了解決上述課題,本發(fā)明的檢查夾具,使電觸頭接觸于檢查對(duì)象物,而檢查檢查對(duì)象物的電特性,該檢查夾具設(shè)有具有收容電觸頭的收容孔的收容體;電觸頭是上述的電觸頭;收容孔具有收容電觸頭的大直徑部的大直徑收容部和小直徑收容部,其中,小直徑收容部收容彈簧部的作為大直徑部以外的部分的小直徑部;在大直徑收容部和小直徑收容部的邊界部上也可以形成有與大直徑部相接的階梯部。
如上所述,采用本發(fā)明的電觸頭及檢查夾具,能夠防止接觸不良的故障的發(fā)生,而且能夠抑制生產(chǎn)成本。
附圖說明
圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)一涉及的檢查夾具的主視圖。
圖2是從圖1的E-E方向表示檢查夾具的圖。
圖3是用于說明圖1所示的檢查夾具的內(nèi)部構(gòu)造的放大剖面圖。
圖4是圖3所示的觸頭的主視圖。
圖5是圖3所示的觸頭的俯視圖。
圖6是圖3所示的觸頭的仰視圖。
圖7是表示將觸頭配置于收容體的收容孔內(nèi)之后,將電極保持體安裝于收容體之前的狀態(tài)的放大剖面圖。
圖8是檢查夾具的放大剖面圖,是表示將觸頭接觸于電路板之前的狀態(tài)的圖。
圖9是檢查夾具的放大剖面圖,是表示將觸頭接觸于電路板之后的狀態(tài)的圖。
圖10是表示檢查側(cè)端部的前端部?jī)A斜地接觸于電路電極的狀態(tài)的圖。
圖11是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)二涉及的觸頭的構(gòu)成的主視圖。
圖12是表示圖11所示的觸頭的構(gòu)成的仰視圖。
圖13是表示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)三涉及的觸頭的構(gòu)成的主視圖。
圖14是表示圖13所示的觸頭的球狀部與保護(hù)層相接的狀態(tài)的圖。
圖15是表示圖14所示的觸頭的球狀部進(jìn)入凹部?jī)?nèi)而與電路電極接觸的狀態(tài)的圖。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





