[發(fā)明專利]芯片測試儀及其測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010140944.0
• 申請日: 2010-04-07
• 公開（公告）號: CN101887103A
• 公開（公告）日: 2010-11-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳澤;陳達飛;黃先察;徐長江
• 申請（專利權(quán)）人: 珠海天威技術(shù)開發(fā)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/00;B41J2/175
• 代理公司: 珠海智專專利商標代理有限公司 44262
• 代理人: 張中;段淑華

1.芯片測試儀，包括

殼體，所述殼體的一個側(cè)壁上設(shè)有自側(cè)壁向外延伸的檢測針，所述殼體上還設(shè)有檢測結(jié)果顯示裝置；

所述殼體內(nèi)設(shè)有一電路板，所述電路板上設(shè)有第一檢測單元，所述第一檢測單元具有向所述檢測針輸出檢測信號的微控制器以及與所述微控制器連接的存儲器，所述存儲器存儲有預設(shè)數(shù)據(jù)；

其特征在于：

所述電路板上還設(shè)有第二檢測單元，所述第二檢測單元包括一頻率比較器，所述頻率比較器的一個輸入端與所述檢測針連接，另一輸入端連接有頻率發(fā)生器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片測試儀，其特征在于：

所述頻率發(fā)生器為所述微控制器或LC振蕩電路或石英晶體。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的芯片測試儀，其特征在于：

所述頻率發(fā)生器的輸出端連接所述微控制器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的芯片測試儀，其特征在于：

所述頻率發(fā)生器的輸出端連接所述檢測結(jié)果顯示裝置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的芯片測試儀，其特征在于：

所述檢測針包括至少一根第一檢測針以及與所述頻率比較器的輸入端連接的至少一根第二檢測針。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的芯片測試儀，其特征在于：

所述殼體具有自側(cè)壁向外延伸的底板，所述底板上方設(shè)有墨盒安裝座，所述安裝座正對所述檢測針設(shè)置。

7.如權(quán)利要求1所述芯片測試儀的測試方法，包括

所述微控制器通過所述檢測針輸出第一檢測信號，待接收到第一反饋信號后，判斷所述第一反饋信號所表示的數(shù)據(jù)是否與所述預設(shè)數(shù)據(jù)一致，并向所述檢測結(jié)果顯示裝置輸出檢測結(jié)果；

其特征在于：

所述微控制器通過所述檢測針輸出第二檢測信號，待接收到第二反饋信號后，將第二反饋信號輸入至所述頻率比較器，所述頻率比較器判斷所輸入的頻率是否在所述頻率發(fā)生器所輸出頻率的一定誤差范圍內(nèi)，并輸出檢測結(jié)果。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于：

所述檢測針包括至少一根第一檢測針以及與所述頻率比較器的輸入端連接的至少一根第二檢測針；

所述微控制器同時向所述第一檢測針輸出第一檢測信號及向所述第二檢測針輸出第二檢測信號。