[發明專利]一種手機發射功率的校準方法

有效

• 申請號: 201010139268.5
• 申請日: 2010-03-29
• 公開（公告）號: CN102208953A
• 公開（公告）日: 2011-10-05
• 發明（設計）人: 劉正輝;陳衛東
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于通訊技術領域，尤其涉及手機發射功率的校準方法。

背景技術

目前，在手機的生產過程中，由于器件偏差等原因，需要對手機進行相應的校準以滿足相關協議規范的要求，手機校準一般包括發射機功率校準、接收機增益校準和壓控振蕩器(Voltage?Controlled?Oscillator，VCO)校準，其中，以發射機功率校準最為耗時。因此，需要設法在保證發射機功率校準質量的前提下盡量減少校準時間，以提高設備使用率，達到降低手機生產成本的目的。

通常，手機的發射機功率校準是讓手機在不同功率控制等級(Power?ControlLevel，PCL)和不同頻率下發射功率，并通過專業測試儀器測量手機的實際發射功率值，如圖1所示，可以得到實際功率曲線100，從而利用校準算法對不同功率級和頻率間的實際發射功率值進行補償，以達到規范的要求。

現有技術的手機功率校準方法通常如下：

平臺商給出表示功率放大器(Power?Amplifier，PA)的實際發射功率值P與數模轉換值(Digital?Analog?Convert，DAC)之間關系的多次方程式，如式1所示：

P(DAC)＝alog_b(C₀+C₁×DAC+C₂×DAC²+…+C_n×DACⁿ)?????(式1)

其中，C_n為DACⁿ項的系數，系數a、b和最高次冪n均由平臺商給出相應的值，其中，n的選取與平臺商提供的經驗校準點的個數有關。

首先，通過指令讓手機進入非信令狀態，選取幾個經驗點，分別讓手機在這些經驗點上正常發射功率，并調整功率測試儀器分別測量這些經驗點上的實際發射功率值P。根據由平臺商預先寫入手機的各DAC值和測量得到的實際輸?出功率值P，計算得到P和DAC的計算功率曲線101P(DAC)。再根據每個功率控制等級所要求的目標功率值P_exp代入計算功率曲線101P(DAC)，以計算各功率控制等級對應的期望DAC值DAC_exp，并將期望DAC值DAC_exp或DAC值偏移量DAC_offset存入手機E²PROM的APC列表中，其中，所述DAC_offset可以通過公式DAC_offset＝DAC_exp-DAC而得到。

例如，某平臺商給出的實際功率曲線100P(DAC)方程式如式2所示，選取GSM850頻段中的PCL分別為5、10、15以及19，且所述a值為20，b值為10，通過功率測試設備而測得的各PCL對應的DAC值與實際輸出功率值P的測量結果如表1所示。

P(DAC)＝20log₁₀(C₀+C₁×DAC+C₂×DAC²+C₃×DAC³)????????(式2)

表1