[發明專利]時域反射儀校正系統及方法

無效

• 申請號: 201010137936.0
• 申請日: 2010-04-01
• 公開（公告）號: CN102213754A
• 公開（公告）日: 2011-10-12
• 發明（設計）人: 梁獻全;李昇軍;許壽國
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測量儀器校正系統及方法，尤其是一種時域反射儀校正系統及方法。

背景技術

時域反射儀是一種用于測試電子線路特性的設備。例如，時域反射儀在電子線路上發送一個脈沖信號，這個脈沖信號經過一個開路的線路時，脈沖信號遇到開路會發射回發送端，時域反射儀通過分析接收到的脈沖信號計算出該電子線路的特性阻抗。

然而，在利用時域反射儀進行電子線路特性的測試時，由于時域反射儀本身的誤差，如通道間的時間差、電纜長度及脈沖信號間的時間差等因素，可能造成測試的準確度下降。因此，對時域反射儀的校正極為重要。

發明內容

鑒于以上內容，有必要提出一種時域反射儀校正系統，其可根據用戶選擇的通道，自動地對該通道間的誤差進行校正。

此外，還有必要提出一種時域反射儀校正方法，其可根據用戶選擇的通道，自動地對該通道間的誤差進行校正。

一種時域反射儀校正系統，用于對一個時域反射儀進行校正。一個校正器通過電纜連接到該時域反射儀的通道上。該系統包括：判斷模塊，用于判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數目是否為2；通道開啟模塊，用于開啟所連接的兩條通道，使其處于工作狀態；參數設置模塊，用于將所連接的兩條通道的參數Step?Deskew及Channel?Deskew的值歸零；測量模塊，用于獲取上述連接的兩條通道在同一預設的時間點所測量到的最大特性阻抗，以及在將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷后，獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；比較模塊，用于通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內，以及通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內；參數調整模塊，用于當上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內時，根據該最大特性阻抗之間的差值調整其中一個通道的Step?Deskew的值，以及當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內時，根據該時間之間的差值調整其中一個通道的Channel?Deskew的值。

一種時域反射儀校正方法，用于對一個時域反射儀進行校正。該方法包括：(a)將一個校正器通過電纜連接到上述時域反射儀的通道上；(b)判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數目是否為2；(c)在通過電纜連接到校正器上的通道的數目是否為2的情況下，開啟所連接的兩條通道，使其處于工作狀態；d)將所連接的兩條通道的參數StepDeskew及Channel?Deskew的值歸零；(e)獲取上述連接的兩條通道在同一預設時間點所測量到的最大特性阻抗；(f)通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內；(g)當上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內時，根據該最大特性阻抗之間的差值調整其中一個通道的Step?Deskew的值；(h)重復步驟(e)至(g)，直至兩個最大特性阻抗之間的差值在所述允許的特性阻抗范圍內；(i)將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷；(j)獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；(k)通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內；(l)當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內時，根據該時間之間的差值調整其中一個通道的Channel?Deskew的值；及(m)重復步驟(j)至(l)，直至兩個時間之間的差值在所述允許的時間范圍內。

本發明所提供的時域反射儀校正系統及方法只需要用戶選擇時域反射儀上待校正的任意兩個通道，就能自動地對所選擇的通道間的誤差進行校正，減少人工校正所造成誤差，提高了精準性。

附圖說明

圖1是本發明時域反射儀校正系統較佳實施例的系統架構圖。

圖2是本發明時域反射儀校正系統較佳實施例的功能模塊圖。

圖3是本發明時域反射儀校正方法較佳實施例的方法流程圖。

主要元件符號說明