[發(fā)明專(zhuān)利]雙波長(zhǎng)光纖干涉大量程高分辨率位移測(cè)量系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010137593.8 | 申請(qǐng)日: | 2010-04-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101825432A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝芳;宋丁;孫金嶺;張濤;王穎 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京交通大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B11/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01B11/02 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100044 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 波長(zhǎng) 光纖 干涉 量程 高分辨率 位移 測(cè)量 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種位移測(cè)量系統(tǒng),特別是涉及一種大量程及高分辨率位移測(cè) 量系統(tǒng),屬于光學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的與此技術(shù)相接近的文獻(xiàn)有以下兩個(gè):
[1]D.P.Hand,T.A.Carolan,J.S.Barton,and?J.D.C.Jones.“Profile?measurement? of?optically?rough?surfaces?by?fiber-optic?interferomtry”,Opt.Lett.,Vol.18,No.16, 1993,P.1361-1363.(Optics?Letters(光學(xué)快報(bào)),第18卷,第16期,P.1361-1363)
文獻(xiàn)[1]的技術(shù)原理如圖1所示。
半導(dǎo)體激光器發(fā)出的光經(jīng)過(guò)法拉第隔離器和光纖3dB-耦合器后,到達(dá)測(cè)量 頭,測(cè)量頭是一個(gè)菲索干涉儀,一部分光被光纖端面反射作為參考光,另一部 分光經(jīng)過(guò)自聚焦透鏡聚焦后,投射到被測(cè)表面上,由被測(cè)表面反射重新回到系 統(tǒng)中并與參考光發(fā)生干涉,干涉信號(hào)由探測(cè)器D1探測(cè),干涉信號(hào)的相位決定于 被測(cè)表面被測(cè)點(diǎn)的縱向高度;改變?cè)摷す馄鞯尿?qū)動(dòng)電流以改變激光器的發(fā)光頻 率,用四種不同頻率的光對(duì)同一點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,得到四個(gè)干涉信號(hào),由于入射光 波頻率不同,四個(gè)干涉信號(hào)的位相就不同,調(diào)節(jié)驅(qū)動(dòng)電流,使相鄰兩個(gè)干涉信 號(hào)的相位差π/2,通過(guò)以下式子,即可解調(diào)出該點(diǎn)的光程差D,即完成單點(diǎn)的測(cè) 量:
In(n=1,2,3,4)是第n次干涉信號(hào)的強(qiáng)度,c是光速,v是入射光頻率。
步進(jìn)電機(jī)再帶動(dòng)測(cè)量頭橫向掃描被測(cè)表面,即完成對(duì)被測(cè)表面的測(cè)量。
[2]Dej?iao?Lin,Xiangqian?Jiang,F(xiàn)ang?Xie,Wei?Zhang,Lin?Zhang?and?Ian?Bennion. “High?stability?multiplexed?fibre?interferometer?and?its?application?on?absolute? displacement?measurement?and?on-line?surface?metrology”,Optics?Express,Vol.12, Issue?23,2004,P.5729-5734.(Optics?Express(光學(xué)特快),2004年,第12卷,第 23期,P.5729-5734)
文獻(xiàn)[2]的技術(shù)原理圖如圖2所示。
此系統(tǒng)包含兩個(gè)光路幾乎重合的邁克爾遜干涉儀。一個(gè)邁克爾遜干涉儀是 利用測(cè)量臂上的光纖光柵和參考鏡作為反射鏡構(gòu)成,用于完成穩(wěn)定工作;另一 個(gè)邁克爾遜干涉儀是利用測(cè)量鏡和參考鏡作為反射鏡構(gòu)成,用于完成測(cè)量工作。 因?yàn)閮蓚€(gè)干涉儀的參考臂共用一個(gè)反射鏡,兩個(gè)干涉儀的參考臂光路完全重合, 又由于兩個(gè)干涉儀的測(cè)量臂幾乎重合,所以,一個(gè)干涉儀穩(wěn)定了,另一個(gè)干涉 儀也就穩(wěn)定了。
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