[發明專利]一種準循環低密度奇偶校驗碼的構造方法

有效

• 申請號: 201010137269.6
• 申請日: 2010-04-01
• 公開（公告）號: CN101854228A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 陳智雄;苑津莎;趙振兵
• 申請（專利權）人: 華北電力大學(保定)
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00;H04L1/06
• 代理公司: 石家莊冀科專利商標事務所有限公司 13108
• 代理人: 李羨民;高錫明

1.一種準循環低密度奇偶校驗碼的構造方法，其特征是，它所構造的準循環LDPC碼的校驗矩陣H(J，K，Z)＝[H_mzH_{8_3}]是滿秩的，共J×Z行，K×Z列，其中J、K和Z均為大于3的正整數，該矩陣由兩個部分構成：環長為6且列重為3的滿秩準循環方陣H_mz和環長為8且列重為3的準循環矩陣H_{8_3}，其中準循環方陣H_mz包含J×Z行和J×Z列，由J×J個維數為Z×Z的循環移位方陣構成；準循環矩陣H_{8_3}包含J×Z行和(K-J)×Z列，由J×(K-J)個維數為Z×Z的循環移位方陣構成；構造的準循環LDPC碼的碼長為K×Z，碼率為(K-J)/K。

2.根據權利要求1所述準循環低密度奇偶校驗碼的構造方法，其特征是，所述環長為6列重為3的滿秩準循環方陣H_mz由列重為3且環長為6的滿秩循環移位方陣P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)和全零方陣P₀組合而成，且H_mz的基矩陣是維數為J×J的單位陣I，即P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)中的下標滿足i＝j，其中，P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)和P₀的維數為Z×Z；i和j均為正整數，且1≤i≤J，1≤j≤J。

3.根據權利要求2所述準循環低密度奇偶校驗碼的構造方法，其特征是，所述列重為3的循環移位方陣P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)是滿秩的，它由三個單位置換陣P₁(a_i，j)、P₁(b_i，j)和P₁(c_i，j)在二元域上加和而成，所述三個單位置換陣的偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j互不相等，且有0≤a_i，j＜b_i，j＜c_i，j＜Z；其中，偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j為正整數；置換陣P₁(a_i，j)、P₁(b_i，j)、P₁(c_i，j)和單位陣I的維數均為Z×Z，i和j均為正整數，且1≤i≤J，1≤j≤J。

4.根據權利要求3所述準循環低密度奇偶校驗碼的構造方法，其特征是，所述滿秩的循環移位方陣P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)中的三個偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j滿足下述條件：由偏移因子a_i，j、b_i，j和c_i，j確定的二元域上多項式1+X^AB(i，j)+X^AC(i，j)不能整除1+X^z，

其中，Z為方陣P₃(a_i，j，b_i，j，c_i，j)的行(列)數；0≤a_i，j＜b_i，j＜c_i，j＜Z，AB(i，j)＝b_i，j-a_i，j，AC(i，j)＝c_i，j-a_i，j；i，j均為正整數，且1≤i≤J，1≤j≤J。