[發明專利]用于頻率合成器的校準技術

有效

• 申請號: 201010136745.2
• 申請日: 2003-03-04
• 公開（公告）號: CN101917186A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發明（設計）人: 杰里米·D·鄧恩沃思;布雷特·C·沃克
• 申請（專利權）人: 高通股份有限公司
• 主分類號: H03L1/02
• 分類號: H03L1/02;H03L7/099;H03L7/199
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉炳勝

1.一種用于校準頻率合成器的方法，包括：

從第一電路接收第一分頻信號，所述第一電路被配置成對振蕩器信號的頻率進行分頻處理，以產生第一電路信號；

從第二電路接收第二分頻信號，所述第二電路被配置成對參考信號的頻率進行分頻處理，以產生第二電路信號；

在校準期間同時初始化所述第一電路和第二電路；以及

基于所述第一電路信號和所述第二電路信號之間的頻率差產生校準信號，其中當所述第一電路信號的沿在所述第二電路信號的沿之前到達時，所述校準信號降低所述振蕩器的頻率，以及當所述第一電路信號的沿在所述第二電路信號的沿之后到達時，所述校準信號增加所述振蕩器頻率。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述振蕩器包括一個壓控振蕩器，并且其中產生所述第一電路信號包括：將所述校準電壓施加到所述壓控振蕩器上。

3.如權利要求1所述的方法，進一步包括：

基于溫度產生校準電壓；以及

將所述校準電壓施加到所述振蕩器上，以校準所述振蕩器。

4.如權利要求1所述的方法，進一步包括：

在調整所述振蕩器的頻率之后啟動一個鎖相環，以及

測試從該鎖相環輸入至所述振蕩器的一個電壓控制輸入，以確定是否應當再次執行校準。

5.如權利要求1所述的方法，其中，產生所述第二電路信號包括接收來自一個溫度補償晶體振蕩器的所述參考頻率。

6.如權利要求1所述的方法，其中，所述振蕩器包括一個壓控振蕩器，該壓控振蕩器具有多個開關電容器，并且所述當所述第一電路信號的沿在所述第二電路信號的沿之前到達時，降低所述振蕩器的頻率，以及當所述第一電路信號的沿在所述第二電路信號的沿之后到達時，增加所述振蕩器頻率，包括：基于所述第一信號和所述第二信號的比較結果來激活所述多個開關電容器的一個子集。

7.如權利要求1所述的方法，進一步包括：

在校準所述振蕩器之后啟動一個鎖相環，以及

基于所述振蕩器的校準設置，調整所述鎖相環充電泵的增益。

8.如權利要求1所述的方法，進一步包括：

基于正比于絕對溫度(PTAT)電壓的值產生校準電壓；以及

將所述校準電壓施加到所述振蕩器上，以校準所述振蕩器。

9.如權利要求1所述的方法，還包括：

啟動一個鎖相環；以及

在啟動所述鎖相環之后，幾乎同時初始化用于所述振蕩器頻率的分頻器電路和用于所述參考頻率的分頻器電路。

10.如權利要求1所述的方法，還包括：

啟動一個鎖相環；以及

測試由所述鎖相環提供給所述振蕩器的電壓控制輸入；以及

如果所述電壓控制輸入超出預定的電壓范圍，則對所述振蕩器再次執行校準。

11.一種設備，包括：

用于對振蕩器器信號的頻率進行分頻處理以產生第一信號的模塊；

用于對參考信號的頻率進行分頻處理以產生第二信號的模塊；

用于在校準期間使得所述第一信號的相位與所述第二信號的相位同步的模塊；

用于基于所述第一信號和所述第二信號的比較結果調整所述振蕩器的頻率的模塊，當所述第一信號的沿在所述第二信號的沿之前到達時，該模塊降低所述振蕩器的頻率，以及當所述第一信號的沿在所述第二信號的沿之后到達時，該模塊增加所述振蕩器的頻率。

12.如權利要求11所述的設備，其中，所述振蕩器包括一個壓控振蕩器，并且其中產生所述第一信號包括：將所述校準電壓施加到所述壓控振蕩器上。

13.如權利要求11所述的設備，進一步包括：

基于溫度產生校準電壓的模塊；以及

將所述校準電壓施加到所述振蕩器上以校準所述振蕩器的模塊。

14.如權利要求11所述的設備，進一步包括：

在調整所述振蕩器的頻率之后啟動一個鎖相環的模塊，以及

測試從該鎖相環至所述振蕩器的一個電壓控制輸入，以確定是否應當再次執行校準。

15.如權利要求11所述的設備，其中產生所述第二信號包括接收來自一個溫度補償晶體振蕩器的所述參考頻率。