[發明專利]單相結構-高密度銦錫氧化物靶材的制備方法有效
| 申請號: | 201010136122.5 | 申請日: | 2010-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN101812665A | 公開(公告)日: | 2010-08-25 |
| 發明(設計)人: | 劉家祥;劉宸;王玥 | 申請(專利權)人: | 北京化工大學 |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/08 |
| 代理公司: | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 單相 結構 高密度 氧化物 制備 方法 | ||
技術領域
本發明是一種以常壓燒結法制備ITO靶材的方法。用本方法制得的ITO 靶材適用于用磁控濺射方法制備ITO薄膜。
背景技術
ITO是銦錫氧化物(indium-tin-oxide)的簡稱。ITO薄膜是一種n型半導 體陶瓷薄膜,具有導電性好(電阻率10-4Ω·cm量級)、對可見光的透光 率>85%、對微波的衰減率>85%和對紅外光反射率>70%等特點,同時加工性 能極好,因而被大量用于電學、光學領域。ITO薄膜最典型的應用在于平面顯 示器,如大屏幕液晶顯示器(LCD)、電致發光顯示(ELD)、電致彩色顯示(ECD) 等,其用量占ITO薄膜產量的一半以上。制備ITO薄膜的方法很多,例如物理 方法包括磁控濺射、蒸發沉積、離子增強沉積、激光脈沖沉積等,化學法包 括噴霧熱解法、化學氣相沉積、溶膠-凝膠法、均相沉淀法等。其中磁控濺射 方法工藝控制性好,可以在大面積基體上均勻成膜,工業生產都采用這種方 法。其基本原理是:在電場和交變磁場作用下,被加速的高能粒子轟擊ITO靶 材表面,能量交換后靶材表面的原子脫離原晶格而逸出,并轉移到基體表面 而成膜。
要獲得高質量的ITO薄膜,高密度、高純度、高均勻性的ITO靶材是關鍵。 制備ITO靶材的方法主要有熱等靜壓法(CN101407904)、熱壓法(CN1326909) 和常壓燒結法。熱等靜壓法(CN101407904)可制備出高密度靶材,但是這種 方法制品的成本較高,且生產周期較長。熱壓法(CN1326909)制備的靶材也 具備高密度,但往往是兩相的,且這種方法生產效率低,對模具材料要求較 高,模具損耗率大,壽命短。
發明內容
本發明用常壓燒結法制備高密度的ITO靶材,本發明工藝簡單,過程容 易控制,縮短了在高溫段的燒結時間,不用添加分散劑和燒結助劑,所需生 產成本較低,素坯是粉體經過造粒后壓制而成,燒結出的靶材成分更均勻, 不容易開裂,且為單相結構、高密度。
本發明的主要制備技術方案是:以銦、錫金屬,濃硝酸和逆王水為原料, 用化學共沉淀法制備ITO復合粉體,然后在ITO粉體中加入粘結劑進行造粒 并干燥,對造粒過后的粉體先模壓成型得到初坯,再對初坯進行冷等靜壓得 到素坯,對素坯進行脫蠟,最后把脫蠟過的素坯在氧氛圍中進行燒結得到ITO 靶材。
上述的銦、錫金屬的純度大于99.99%,金屬銦、錫的加入量依據混合溶 液中換算后的氧化銦和氧化錫質量百分比In2O3∶SnO2=90∶10加入,濃硝酸(質 量百分含量65.0~68.0%)純度大于等于優級純,逆王水為純度大于等于優級 純的濃硝酸和濃鹽酸(質量百分含量36.0~38.0%)按照體積比例3∶1配制而 成,化學共沉淀法是銦溶于濃硝酸,錫溶于逆王水,待銦和錫完全溶解后, 將兩種溶液混合,混合溶液經共沉淀、洗滌雜質離子、固液分離、共沸蒸餾、 干燥、煅燒得到ITO復合粉體。
上述的粘結劑為聚乙烯醇,聚丙烯酸酯或聚甲基丙烯酸酯。
上述的造粒過程中加入的粘結劑的比例為ITO粉體質量的1%-1.5%。
上述的模壓壓力為40-60MPa。
上述的冷等靜壓的壓力為100-300MPa。
上述的脫蠟是指素坯在馬弗爐中500℃保溫一個小時去除其中的粘結劑。
上述的燒結是脫蠟過的素坯在箱式高溫爐保持最高溫在1350℃-1550℃, 燒結4-8個小時。
上述的氧氛圍的氧分壓為1-2個大氣壓,并且氧氣的流速為40-60ml/min。
技術效果
本發明的效果:通過化學共沉淀法制備的ITO復合粉體分散性好,無團 聚,粒徑在10nm-40nm之間,然后ITO粉體經過造粒,干燥,模壓和冷等靜 壓成型得到的素坯相對理論密度可達到60%,對素坯進行脫蠟,脫蠟過的素坯 在氧氛圍下,1550℃保溫8個小時燒結得到ITO靶材,相對理論密度可達到 99.6%,且為單相結構。本發明工藝簡單,過程容易控制,縮短了在高溫段的 燒結時間,不用添加分散劑和燒結助劑,所需生產成本較低,素坯是粉體經 過造粒后壓制而成,燒結出的靶材成分更均勻,不容易開裂,且為單相結構、 高密度。
附圖說明:
圖1是本方法制備的ITO靶材的制備工藝流程圖。
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