[發明專利]一種處理X線平板探測器圖像壞線的方法及其裝置

有效

• 申請號: 201010135142.0
• 申請日: 2010-03-24
• 公開（公告）號: CN101795349A
• 公開（公告）日: 2010-08-04
• 發明（設計）人: 劉炎;孫文武
• 申請（專利權）人: 深圳邁瑞生物醫療電子股份有限公司
• 主分類號: H04N5/14
• 分類號: H04N5/14;H04N5/202;G01N23/04;G01V3/12
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 楊宏

1.一種處理X線平板探測器圖像壞線的方法，其特征在于：包括：?

壞線檢測步驟：檢測X線平板探測器圖像中的壞線的位置；?

細節估計步驟：在待處理的X線平板探測器圖像中，用包含所述壞線的圖像子區域內的圖像數據估計所述壞線處的圖像像素的細節信息，獲得細節估計后的圖像；?

灰度補償步驟：在所述細節估計后的圖像中，用所述壞線的鄰域內的非壞線圖像像素的圖像數據計算補償量，補償所述壞線處的圖像像素的圖像數據；所述灰度補償步驟包括：?

A2、對所述壞線的鄰域內的圖像沿行或列方向分段，獲得子段集合，所述子段集合中包括壞線像素和非壞線圖像像素；?

B2、對每個子段集合分別計算行或列累加和，得到每個子段的行或列累加向量；?

C2、在所述每個子段的行或列累加向量中，用所述非壞線圖像像素的分量進行插值或擬合運算，計算所述壞線對應的估計分量，獲得每個子段的壞線的估計向量；?

D2、根據所述壞線的估計向量和所述行或列累加向量，計算每個子段的壞線的灰度補償向量，所述灰度補償向量中每個元素對應為一壞線行或壞線列的補償量；?

E2、將所述每一個子段集合中的壞線行或壞線列的圖像數據加上所述壞線行或壞線列對應的補償量，獲得灰度補償結果。?

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述細節估計步驟包括：?

在所述待處理的X線平板探測器圖像中，選擇包含所述壞線的圖像子區域；?

在所述圖像子區域內，對所述待處理的X線平板探測器圖像進行頻域濾波處理，處理后的圖像即為細節估計后的圖像。?

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：其中在所述圖像子區域內，對所述待處理的X線平板探測器圖像進行頻域濾波處理包括：?

將所述圖像子區域的圖像數據變換到頻域，獲得所述圖像子區域的頻域數據；?

對所述頻域數據進行濾波，其中在所述壞線方向上為全通濾波，在垂直所述壞線的方向上為低通濾波；?

將濾波后的頻域數據反變換到時域，獲得頻域濾波處理后的圖像子區域；?

將所述頻域濾波處理后的圖像子區域中壞線的圖像數據賦予原圖像子區域中的壞線，替換原圖像子區域的壞線的圖像數據。?

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于：其中所述低通濾波使用非理想濾波器，其中低通濾波的截止頻率為fs/2，其中fs為采樣頻率。?

5.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述壞線檢測步驟和細節估計步驟之間還包括：?

將所述壞線處的圖像數據重置為極值。?

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述壞線檢測步驟包括：?

累加圖像中每一行或每一列所有像素的灰度值，獲得圖像的行累加灰度向量或列累加灰度向量；?

將所述行累加灰度向量或列累加灰度向量中分量的取值作為橫坐標，將此橫坐標的每個取值、在所述行累加灰度向量或列累加灰度向量中對應出現的次數作為縱坐標，構建直方圖；?

計算所述行累加灰度向量或列累加灰度向量的均值和標準差，以均值?為中心，以所述標準差為步進累加所述直方圖，以剩余直方圖是否還再變化作為約束條件進行循環累加處理，當剩余直方圖不再變化時，則判定是壞線對應的直方圖。?