[發明專利]觸控面板測試設備

無效

• 申請號: 201010134409.4
• 申請日: 2010-03-05
• 公開（公告）號: CN102193038A
• 公開（公告）日: 2011-09-21
• 發明（設計）人: 杜文生;林韋丞;方贊銘;周聰順;張澤湖;倪瑞銘
• 申請（專利權）人: 啟迪科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06F3/041
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 任永武

1.一種測試設備，用以測試至少一觸控面板的功能，其特征在于，該測試設備包含有：

一檢測模塊，用以檢測來自至少一待測物的信號且產生一檢測數據，該檢測模塊具有一多軸機構及至少一旋轉機構且包含多個檢測單元及一信號處理器，其中各檢測單元包含多個感測頭，該旋轉機構設置于該多軸機構上且該檢測單元設置于該旋轉機構上；

一控制模塊，耦接該檢測模塊，用以控制該檢測模塊、接收該檢測數據及處理該檢測數據，該控制模塊包含一控制單元、一數據存取單元及一數據分析單元，該控制單元根據一組控制參數，控制該多個檢測單元的位置，該數據存取單元接收且儲存該檢測數據且提供該檢測數據予該數據分析單元；以及

一人機界面模塊，耦接該控制模塊，包含一接收界面、一處理器、一輸入界面及至少一顯示器，該接收界面用以接收該數據分析單元輸出的信號，該處理器用以處理該接收界面輸出的信號后產生一輸出數據且顯示于該顯示器上，該輸入界面用以接收來自一使用者的輸入后提供該控制參數予該控制模塊，以便依據該使用者的輸入進行該觸控面板的測試。

2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該測試設備是對一觸控面板進行單點測試或同時對多片觸控面板進行單點測試，或者對一觸控面板同時進行多點測試或同時對多片觸控面板進行多點測試。

3.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該輸出數據是選自下列族群的一者或其組合：靜態感應器分辨率、線精準度、應答時間、抖動、手勢、可檢測最高距離及信號噪聲比。

4.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該多軸機構為具備x、y及z軸的三軸機構，x及y軸的位移速度范圍為0mm/sec～300mm/sec。

5.根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于，該多個感測頭是沿x軸或y軸設置排成一列，借助該旋轉機構可使該多個感測頭沿y軸或x軸排列，以便對觸控面板進行x及y軸的多點測試。

6.根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于，該多個感測頭是沿x軸設置排成一列，借助該旋轉機構的旋轉，對觸控面板進行二對角線的多點測試。

7.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該控制模塊為可拆換式的控制器且感測頭為可拆換式的傳感器，用以選擇測試電阻式觸控面板或電容式觸控面板。

8.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該感測頭為接觸該待測物的感測頭或不接觸該待測物的感測頭。

9.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該待測物為觸控面板、液晶顯示器或附有觸控面板的電子制品其中之一。

10.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，該待測物的對角線尺寸可為2.2吋～60吋。