[發明專利]摻雜類金剛石涂層的多離子束濺射沉積技術無效
| 申請號: | 201010132905.6 | 申請日: | 2010-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN101787518A | 公開(公告)日: | 2010-07-28 |
| 發明(設計)人: | 付志強;王成彪;岳文;彭志堅;于翔 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | C23C14/34 | 分類號: | C23C14/34;C23C14/06;C23C14/02 |
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| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 摻雜 金剛石 涂層 離子束 濺射 沉積 技術 | ||
所屬技術領域:
本發明專利涉及一種制備摻雜類金剛石(DLC)涂層的多離子束濺射沉積技術,屬于高性能DLC涂層材料的復合制備技術。
背景技術:
類金剛石涂層具有高硬度、高彈性模量、優異的摩擦磨損性能、化學穩定性及生物相容性,具有非常廣泛的應用前景。但內應力大、膜/基結合力差、熱穩定性差、脆性大等限制了DLC涂層在苛刻服役條件下的應用。
采用過渡層可克服膜/基界面處結構、性能差異大的問題,緩解DLC膜的內應力和提高DLC涂層的膜/基結合力。通過在DLC涂層中摻雜W、Ti、Cr、Zr、Cu、Si、F等元素,形成以非晶碳膜為基體的多元復相結構,可顯著改善DLC膜的綜合性能;但摻雜單一元素也存在一些問題,如摻雜鎢會增大DLC涂層的摩擦系數,摻雜鈦導致DLC涂層脆性增大,摻雜F導致DLC涂層的熱穩定性變差;為了進一步改善DLC涂層的性能,需要通過DLC涂層的多種元素摻雜實現不同摻雜元素的優勢互補,但目前還沒有開發出適合工業化批量生產的DLC涂層多元摻雜技術。
多離子束濺射沉積技術的工藝參數可以嚴格控制,制備的DLC膜力學性能優異,是一種合成高性能DLC涂層的理想方法,但目前還沒有利用該方法合成多元摻雜DLC涂層的文獻報道。
開發新型的多元摻雜DLC涂層及其過渡層的多離子束濺射沉積技術,制備出具有優化梯度分布的過渡層的高性能多元摻雜DLC涂層對DLC涂層在苛刻服役條件下的應用具有重要意義。
發明內容:
為了克服目前DLC涂層制備技術和摻雜方案存在的不足,本發明專利提出了一種新型的DLC涂層多離子束濺射沉積技術,其特征在于:所述方法將離子束濺射沉積、離子束輔助沉積、離子束刻蝕清洗結合起來,制備多元摻雜DLC涂層,該方法依次包括以下步驟:
(1)首先利用超聲波清洗技術去除工件表面污染層;
(2)利用離子源產生的氬離子束對工件表面進行離子束刻蝕清洗,獲得原子級的清潔表面;
(3)利用離子束輔助沉積方法制備梯度過渡層;
(4)利用多離子束濺射+低能離子束輔助沉積方法制備多元摻雜DLC膜。
在上述制備方法中,步驟(2)的離子源可采用考夫曼離子源、射頻感應耦合離子源、電子回旋共振離子源中的任何一種離子源。
在上述制備方法中,步驟(2)向離子源中通入氬氣。
在上述制備方法中,步驟(3)在濺射離子源從金屬靶材上濺射的金屬粒子沉積在工件表面的同時,利用輔助沉積離子源發射的氣體離子束持續轟擊沉積膜層表面,形成梯度過渡層。
在上述制備方法中,步驟(3)的濺射離子源采用考夫曼離子源;金屬靶材可以為Ti、Cr、Zr、W、Nb中的任何一種金屬;濺射離子源發射的離子束能量為300-4000eV,束流為10-200mA。
在上述制備方法中,步驟(3)的輔助沉積離子源可以采用考夫曼離子源、射頻感應耦合離子源、電子回旋共振離子源中的任何一種離子源;先后向濺射離子源中通入氬氣、氬氣/氮氣混合氣、氬氣/氮氣/含碳氣體混合氣、氬氣/含碳氣體混合氣;輔助沉積離子源發射的離子束能量為50-1000eV,束流為10-200mA。
在上述制備方法中,步驟(3)制備的梯度過渡層包括Ti/TiN/TiCN/TiC、Cr/CrN/CrCN/CrC、Zr/ZrN/ZrCN/ZrC、W/WC、Nb/NbN/NbC等梯度過渡層。
在上述制備方法中,步驟(4)利用一個或幾個濺射離子源從石墨靶上濺射碳粒子,利用一個或幾個濺射離子源從金屬靶材上濺射金屬粒子,同時利用輔助沉積離子源發射的氣體離子持續轟擊沉積膜層表面,調控摻雜DLC涂層微觀結構和實現多元摻雜。
在上述制備方法中,步驟(4)濺射石墨靶的濺射離子源采用考夫曼離子源,濺射離子源發射的離子束能量為300-4000eV,束流為10-200mA。
在上述制備方法中,步驟(4)濺射金屬靶的濺射離子源采用考夫曼離子源,金屬靶材可以為金屬靶、合金靶或金屬鑲嵌靶,濺射離子源發射的離子束能量為300-4000eV,束流為10-200mA。
在上述制備方法中,步驟(4)輔助沉積離子源可以采用考夫曼離子源、射頻感應耦合離子源、電子回旋共振離子源中的任何一種離子源,除了向輔助沉積離子源中通入氬氣或氬氣/氫氣混合氣外,還至少向輔助沉積離子源中通入甲烷、乙炔、氮氣、硫化氫、二硫化碳、硅烷、四氟化碳等氣體中的一種氣體,輔助沉積離子源的離子束能量為50-500eV,束流為10-200mA。
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