[發明專利]一種具有高峰值電流密度隧穿結的多結太陽電池有效
| 申請號: | 201010131540.5 | 申請日: | 2010-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN101814543A | 公開(公告)日: | 2010-08-25 |
| 發明(設計)人: | 林桂江;王良均;丁杰;吳志強 | 申請(專利權)人: | 廈門市三安光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/052 | 分類號: | H01L31/052;H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廈門原創專利事務所 35101 | 代理人: | 徐東峰 |
| 地址: | 361009 福建省廈*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 峰值 電流密度 隧穿結 太陽電池 | ||
1.一種具有高峰值電流密度隧穿結的多結太陽電池,含有GaInP/GaInAs/Ge三 結太陽電池,其特征是:連接Ge底電池、GaInAs中電池和GaInP頂電池的 隧穿結共有五層,第一層是n型(AlxGa1-x)InP或AlGaAs防擴散薄膜,第二層 是使用Si、Te共摻的GaAs薄膜,第三層是使用Te摻雜的GaAs薄膜,第四 層是使用C摻雜的AlGaAs薄膜,第五層是p型(AlxGa1-x)InP或AlGaAs防擴 散薄膜。
2.如權利要求1所述的一種具有高峰值電流密度隧穿結的多結太陽電池,其特 征在于:所述Si、Te共摻的GaAs薄膜的厚度為1~5nm。
3.如權利要求1所述的一種具有高峰值電流密度隧穿結的多結太陽電池,其特 征在于:所述使用Te摻雜的GaAs薄膜的厚度為15~25nm。
4.如權利要求1所述的一種具有高峰值電流密度隧穿結的多結太陽電池,其特 征在于:所述使用C摻雜的AlGaAs薄膜的厚度為15~30nm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





