[發明專利]重構非均勻介質中缺陷形狀的方法

無效

• 申請號: 201010131246.4
• 申請日: 2010-03-18
• 公開（公告）號: CN101819182A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 鄭鋼豐;鄭禮全;邱軼兵;李玲
• 申請（專利權）人: 安徽理工大學
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01B17/06
• 代理公司: 合肥誠興知識產權代理有限公司 34109
• 代理人: 湯茂盛

1.一種重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法，包括以下步驟：首 先利用超聲波檢測系統檢測非均勻介質，獲得非均勻介質中的缺陷回波 幅值，在計算機中利用工程計算軟件對公式(1)和(2)進行程序編寫， 然后輸入相應的缺陷回波的幅值即可實現非均勻介質的缺陷形狀的重 構，

其中x是特征函數Γ(x)和γ_H(x)的參數，是單位矢量指向y_m方向的分 量，表示缺陷散射場縱波的散射幅值，k_L表示縱波波數，f表示 頻率，是單位矢量指向y方向，表示單位球上的積分，C_L(f) 就是非均勻介質中的相速度；u⁰表示入射平面縱波振幅。

2.根據權利要求1所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于所述的超聲波檢測系統檢測非均勻介質包括以下步驟：將超 聲波傳感器置于非均勻介質的表面，超聲波脈沖發射/接收儀產生一個 脈沖信號施加于超聲波傳感器，超聲波傳感器在非均勻介質中產生一束 縱波，該縱波在非均勻介質中遇到缺陷產生的回波信號又傳輸到超聲波 傳感器，超聲波傳感器接收到回波信號再經超聲波脈沖發射/接收儀后 將其送入數字示波器，數字示波器通過分析反射回波信號，以數據的形 式將其存儲在計算機中。

3.根據權利要求1所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的工程計算軟件包括Mathematica5.0、Maple7.0、 Matlab7.0和Wavestar，其中Wavestar用于非均勻介質的缺陷數據的 采集，Mathematica5.0、Maple7.0用于非均勻介質中缺陷回波幅值數值 的處理和計算，Matlab7.0用于非均勻介質中的缺陷形狀的重構。

4.根據權利要求1所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的公式(1)和(2)中的頻率f的取值范圍是0.2～ 1.5MHz。

5.根據權利要求2所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的超聲波脈沖發射/接收儀為Model5800型探傷儀。

6.根據權利要求2所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的超聲波傳感器的探測點均勻分布在非均勻介質的表 面。

7.根據權利要求2或6所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方 法，其特征在于：所述的超聲波傳感器與非均勻介質的表面垂直接觸。

8.根據權利要求2或6所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方 法，其特征在于：所述的超聲波傳感器與非均勻介質之間采用白凡士林 作為耦合劑。

9.根據權利要求2所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的超聲波傳感器在非均勻介質的表面每間隔一定角度 手動移動一次且間隔角度小于等于30°，且沿軸線方向每間隔一段距離 移動一步且間隔距離小于等于15mm。

10.根據權利要求6所述的重構非均勻介質中的缺陷形狀的方法， 其特征在于：所述的超聲波傳感器在非均勻介質表面進行檢測時每個探 測點均重復檢測數次。