[發(fā)明專利]一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010130424.1
• 申請(qǐng)日: 2010-03-23
• 公開（公告）號(hào): CN102200515A
• 公開（公告）日: 2011-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張鴻云
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海伊斯曼電氣有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 上海兆豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 31241
• 代理人: 黃美英

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀。

背景技術(shù)

一般情況下，太陽(yáng)能電池組件的切片、擴(kuò)散、焊接、層壓和裝框等工藝都可能造成組件內(nèi)部缺陷，如工藝污染、材料缺陷、隱裂、碎片、斷柵、缺焊、低效率等。這些缺陷將會(huì)影響轉(zhuǎn)換效率、降低可靠性、縮短使用壽命、降低品質(zhì)質(zhì)量，因此，在出廠前需要經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)，然而由于這些缺陷均為肉眼看不見的，所以，如何準(zhǔn)確、有效地檢測(cè)出太陽(yáng)能電池組件的缺陷，已成為業(yè)內(nèi)人士重點(diǎn)研究的課題。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明旨在提供一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀，以方便快捷地檢測(cè)出太陽(yáng)能電池組件的種種缺陷，從而提升太陽(yáng)能光伏組件的品質(zhì)。

本發(fā)明所述的一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀，它包括一箱體、一自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)、設(shè)置在所述箱體內(nèi)部的一反射機(jī)構(gòu)和一設(shè)置在該反射機(jī)構(gòu)上方的太陽(yáng)能支架，其中，所述的反射機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述箱體的底面上，且該反射機(jī)構(gòu)包括一鏡架和一設(shè)置在該鏡架上的鏡子；所述自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)設(shè)置在所述箱體的一側(cè)面上并位于所述鏡子的對(duì)面。

在上述的太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中，所述自動(dòng)識(shí)別裝置包括依次連接的圖像采集設(shè)備、數(shù)據(jù)輸入接口、中央處理器和顯示裝置，其中，

所述圖像采集設(shè)備采集所述鏡子上的圖像信息；

所述中央處理器通過所述數(shù)據(jù)輸入接口對(duì)所述圖像采集設(shè)備輸出的圖像數(shù)據(jù)分析存儲(chǔ)，一方面根據(jù)外部輸入設(shè)定值調(diào)節(jié)所述檢測(cè)儀的檢測(cè)電壓電流，另一方面根據(jù)分析結(jié)果向所述顯示裝置輸出一顯示信號(hào)。

在上述的太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中，所述中央處理器包括數(shù)據(jù)輸入模塊、存儲(chǔ)模塊、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化模塊和電壓電流調(diào)節(jié)模塊，其中，

所述數(shù)據(jù)輸入模塊接收所述的圖像數(shù)據(jù)，并輸出相應(yīng)的圖像信號(hào)；

所述存儲(chǔ)模塊與所述數(shù)據(jù)輸入模塊連接，保存所述的圖像信號(hào)；

所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化模塊對(duì)所述的圖像信號(hào)進(jìn)行分析轉(zhuǎn)化，并輸出所述的顯示信號(hào)；

所述電壓電流調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述外部輸入設(shè)定值調(diào)節(jié)所述檢測(cè)儀的檢測(cè)電壓電流。

在上述的太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中，所述鏡架呈直三棱柱狀，其兩個(gè)底面均為直角三角形，且該直角三角形的一直角邊位于所述箱體的底面上，所述鏡子位于該直角三角形斜邊所在的側(cè)面上，且該鏡子表面與所述箱體的底面的夾角為α。

在上述的太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中，所述檢測(cè)儀還包括設(shè)置在所述箱體底面上的一電源固定架、一主機(jī)固定架以及一用于支撐所述圖像采集設(shè)備的設(shè)備支架。

由于采用了上述的技術(shù)解決方案，本發(fā)明通過在箱體中設(shè)置一面鏡子，使太陽(yáng)能電池組件在鏡子上成像，再利用電致發(fā)光原理(即電流通過物質(zhì)時(shí)或物質(zhì)處?kù)稄?qiáng)電場(chǎng)下發(fā)光的現(xiàn)象，將電能轉(zhuǎn)換為光能的一種形式，且轉(zhuǎn)換過程中沒有能量損失，不會(huì)發(fā)熱，所以一般稱為“冷光”)，在納米級(jí)光波的條件下，通過圖像采集設(shè)備，即硅CCD探測(cè)器拍攝鏡子上的圖像，并最終顯示在自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的界面上供用戶及時(shí)全面地了解和掌握太陽(yáng)能電池組件內(nèi)部問題，為改進(jìn)生產(chǎn)工藝提供依據(jù)；本發(fā)明不僅具有靈敏度高、檢測(cè)速度快、結(jié)果形象、缺陷自動(dòng)識(shí)別、綠色環(huán)保、安全節(jié)能等特點(diǎn)，還能有效縮小普通檢測(cè)設(shè)備的體積和檢測(cè)成本。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀的結(jié)構(gòu)側(cè)視圖；

圖2是本發(fā)明的一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀的結(jié)構(gòu)俯視圖；

圖3是本發(fā)明的一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4是本發(fā)明的一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀中自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)的中央處理器的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施列進(jìn)行詳細(xì)說明。

請(qǐng)參閱圖1、圖2，本發(fā)明，即一種太陽(yáng)能電池組件隱裂檢測(cè)儀，它包括一箱體1、一自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)2、設(shè)置在箱體1內(nèi)部的一反射機(jī)構(gòu)3、一設(shè)置在該反射機(jī)構(gòu)3上方的太陽(yáng)能支架4、設(shè)置在箱體1底面上的一電源固定架5、一主機(jī)固定架6以及一用于支撐圖像采集設(shè)備21的設(shè)備支架7，其中，

反射機(jī)構(gòu)3設(shè)置在箱體1的底面上，且該反射機(jī)構(gòu)3包括一鏡架31和一設(shè)置在該鏡架31上的鏡子32，鏡架31呈直三棱柱狀，其兩個(gè)底面均為直角三角形，且該直角三角形的一直角邊位于箱體1的底面上，鏡子32位于該直角三角形斜邊所在的側(cè)面上，且該鏡子32表面與箱體1的底面的夾角為α(夾角α的最佳值為45°)，使得放置在太陽(yáng)能支架4上的太陽(yáng)能電池組件在鏡子32上的成像效果達(dá)到最佳。