[發明專利]電子熔絲裝置及其校正方法與操作電子熔絲裝置的方法

有效

• 申請號: 201010130335.7
• 申請日: 2010-03-23
• 公開（公告）號: CN102034551A
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 黃睿夫
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G11C17/18
• 分類號: G11C17/18;G11C29/42
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 葛強;張一軍

技術領域

本發明是關于電子熔絲(efuse)裝置，且特別是關于電子熔絲裝置及其校正方法與操作電子熔絲裝置的方法。

背景技術

現在，電子熔絲熔斷(blow)是電子熔絲應用的重要操作，且其性能取決于熔斷電壓及熔斷時間。每百萬元件中的缺陷元件數(defectsparts?per?million，以下簡稱為DPPM)測試是電子熔絲應用中十分重要的課題。如果電子熔絲陣列的熔斷條件并不穩定，那么熔斷的電子熔絲的電阻值將會改變，所以其滿足DPPM測試的結果，因此電子熔絲陣列的成品率(yield)將會降低。然而，在實踐中，電子熔絲陣列的熔斷條件并不能達到最佳控制。

因此，亟需提供一種電子熔絲裝置與一種能夠校正從電子熔絲陣列讀取的數據的校正方法，從而改善電子熔絲陣列的成品率。

發明內容

為解決以上技術問題，本發明提供了一種電子熔絲裝置及其校正方法與操作電子熔絲裝置的方法。

本發明提供了一種電子熔絲裝置，用于根據地址數據記錄輸入數據，所述電子熔絲裝置包含：第一檢查比特產生器，用于接收輸入數據，并根據輸入數據用預定錯誤校正碼產生第一檢查比特數據；程序設計單元，用于根據輸入數據、地址數據及第一檢查比特數據產生多個熔斷信號；以及電子熔絲陣列，用于接收多個熔斷信號及地址數據，其中輸入數據及第一檢查比特數據是根據多個熔斷信號及地址數據被記錄在電子熔絲陣列之中。

本發明提供了一種電子熔絲裝置，用于根據地址數據記錄輸入數據，所述電子熔絲裝置包含：第一檢查比特產生器，用于接收輸入數據，并根據輸入數據用預定錯誤校正碼產生第一檢查比特數據；程序設計單元，耦接于第一檢查比特產生器，用于根據輸入數據、地址數據及第一檢查比特數據產生多個熔斷信號；電子熔絲陣列，用于根據多個熔斷信號及地址數據將輸入數據及第一檢查比特數據記錄在電子熔絲陣列之中；第二檢查比特產生器，耦接于電子熔絲陣列，用于根據地址數據從電子熔絲陣列讀取記錄數據，并根據記錄數據用預定錯誤校正碼產生第二檢查比特數據；征狀產生器，耦接于第二檢查比特產生器，用于根據第二檢查比特數據產生校正數據；以及校正器，耦接于電子熔絲陣列與征狀產生器，用于從電子熔絲陣列讀取記錄數據的第一部分，并用校正數據校正記錄數據的第一部分以產生輸出數據。

本發明提供了一種校正方法，用于校正電子熔絲裝置，所述校正方法包含：提供輸入數據；根據輸入數據用預定錯誤校正碼，產生第一檢查比特數據；根據輸入數據、地址數據及第一檢查比特數據，產生多個熔斷信號；根據多個熔斷信號及地址數據，將輸入數據及第一檢查比特數據記錄在電子熔絲陣列之中；根據地址數據，從電子熔絲陣列讀取記錄數據；根據記錄數據用預定錯誤校正碼，產生第二檢查比特數據；根據第二檢查比特數據，產生校正數據；以及用校正數據，校正記錄數據的第一部分以產生輸出數據，其中，記錄數據的第一部分對應于輸入數據。

本發明提供了一種操作電子熔絲裝置的方法，所述方法包含：接收輸入數據；根據輸入數據用預定錯誤校正碼，產生第一檢查比特數據；將輸入數據記錄到電子熔絲裝置之中；以及將第一檢查比特數據記錄在非易失性存儲器中。

本發明提供的電子熔絲裝置及其校正方法與操作電子熔絲裝置的方法，用錯誤校正碼校正從電子熔絲陣列讀取的數據，提高了電子熔絲陣列的成品率。

附圖說明

圖1是根據本發明實施方式的電子熔絲裝置的示意圖。

圖2是根據本發明實施方式在圖1的電子熔絲裝置中的程序設計單元的示意圖。

圖3是圖2中的熔斷使能信號WPL₁-WPL_n的示意圖。

圖4是圖1的電子熔絲陣列及同位數據PD的布置的示意圖。

圖5是根據本發明圖1的電子熔絲裝置中的校正器的實施方式的示意圖。

圖6是根據本發明圖1的電子熔絲裝置中的校正器的另一實施方式的校正單元的示意圖。

圖7是根據本發明實施方式的電子熔絲裝置的校正方法的流程圖。

具體實施方式