[發(fā)明專利]探針及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010128154.0 | 申請(qǐng)日: | 2010-03-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101846696A | 公開(公告)日: | 2010-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱俊郎;洪仁財(cái);黃銘崗;林志坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華映光電股份有限公司;中華映管股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/073 | 分類號(hào): | G01R1/073 |
| 代理公司: | 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350015 福建*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探針 及其 制作方法 | ||
1.一種探針的制作方法,其特征在于該方法包括:
形成一金屬層在基板上;
形成一光阻層在該金屬層上;
使用一灰階光罩圖形化該光阻層,以形成一圖案化的線路保護(hù)層,其中該圖案的線路保護(hù)層包含較厚的一凸塊區(qū),以及較薄的一引線區(qū);以及
蝕刻該圖案化的線路保護(hù)層以及該金屬層,使得該金屬層形成一對(duì)應(yīng)該圖案化的線路保護(hù)層的探針,其中該金屬層是被蝕刻以于該凸塊區(qū)形成該探針的一金屬凸塊,并于該引線區(qū)形成該探針的一金屬引線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針的制作方法,其特征在于:其中該光阻層是為一正光阻。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針的制作方法,其特征在于:其中該灰階光罩是包含一不透光的凸塊區(qū)以及一半透光的引線區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探針的制作方法,其特征在于:其中該半透光的引線區(qū)是為一半色調(diào)光罩。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探針的制作方法,其特征在于:其中該不透光的凸塊區(qū)其材質(zhì)是不透光的金屬。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探針的制作方法,其特征在于:其中蝕刻該圖案化的線路保護(hù)層以及該金屬層的步驟包括:蝕刻未被該圖案化的線路保護(hù)層覆蓋的該金屬層;蝕刻該圖案化的線路保護(hù)層以暴露該引線區(qū)上方的該金屬層,并留下該凸塊區(qū)上方的該圖案化的線路保護(hù)層;以及蝕刻對(duì)應(yīng)該引線區(qū)的該金屬層,使該部份金屬層的厚度小于該金屬凸塊,以形成該金屬引線。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的探針的制作方法,其特征在于:其中在蝕刻該金屬層以形成該金屬引線的后還包括剝離該凸塊區(qū)上方的該圖案化的線路保護(hù)層以暴露出該金屬凸塊。
8.一種以權(quán)利要求1所述方法所制作的探針塊,其特征在于該探針塊包含:
復(fù)數(shù)條引線,設(shè)置于一基板上;以及
復(fù)數(shù)個(gè)凸塊,每一個(gè)凸塊設(shè)置于每一條引線的一端正上方,并且各凸塊與對(duì)應(yīng)的引線是一體成型。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探針塊,其特征在于:其中該些相鄰兩凸塊之間的距離皆為相同。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探針塊,其特征在于:其中該基板是為軟性電路板。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





