[發明專利]示差掃描熱量計

有效

• 申請號: 201010127776.1
• 申請日: 2010-02-20
• 公開（公告）號: CN101813652A
• 公開（公告）日: 2010-08-25
• 發明（設計）人: 西村晉哉;山田健太郎;藤原寬仁
• 申請（專利權）人: 精工電子納米科技有限公司
• 主分類號: G01N25/48
• 分類號: G01N25/48
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 嚴志軍;楊楷

1.一種示差掃描熱量計，具備：收納測定樣品和基準物質的熱 匯；加熱所述熱匯的加熱器；與所述熱匯隔開并且位于所述熱匯的下 方的冷卻塊；連接在所述熱匯和所述冷卻塊之間并在所述熱匯和所述 冷卻塊之間形成熱流路的熱阻體；具有用于以可拆卸的方式嵌合在所 述冷卻塊上的內孔并且由外部的冷卻裝置進行冷卻的冷卻頭；以及將 所述測定樣品和所述基準物質的溫度差作為熱流差信號而輸出的示 差熱流檢測器，

在所述冷卻塊中的比與所述熱阻體連接的連接部更靠外側處形 成與所述內孔嵌合的側壁，

所述冷卻頭的上表面配置為不超出至所述連接部的上方。

2.根據權利要求1所述的示差掃描熱量計，其特征在于，所述 側壁是突出至所述冷卻塊的上方或下方的突出部的外周面。

3.根據權利要求2所述的示差掃描熱量計，其特征在于，在所 述冷卻塊的上表面或下表面形成由所述突出部與從外側離開所述突 出部并包圍所述突出部的外周環限定的環狀的槽，

將所述突出部嵌合在所述內孔中，并且，所述冷卻頭容納在所述 槽中。