[發明專利]電子裝置和顯示控制方法有效
| 申請號: | 201010126076.0 | 申請日: | 2010-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN101847076A | 公開(公告)日: | 2010-09-29 |
| 發明(設計)人: | 福田憲一郎 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G06F3/048 | 分類號: | G06F3/048 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人: | 陳桂香;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 裝置 顯示 控制 方法 | ||
相關申請的交叉參考
本申請包含與在2009年3月25日向日本專利局提出的日本優先權專利申請JP?2009-073266的公開內容相關的主題,在此將該日本優先權專利申請的全部內容以引用的方式并入本文中。
技術領域
本發明涉及電子裝置,更具體而言,涉及一種用于顯示多個操作標記(operation?marker)并接受對所述操作標記的選擇操作的電子裝置、一種顯示控制方法以及一種使計算機執行該顯示控制方法的程序。
背景技術
近來,例如數碼照相機等通過對主體對象(例如人)進行攝像來生成圖像并記錄該圖像的攝像裝置得到了廣泛應用。例如,當要在攝像裝置中再現上述所記錄的各個圖像時,把與所記錄的圖像對應的縮略圖像(thumbnail?image)排列成矩陣形狀以便顯示成列表形式,并且可通過從這些縮略圖像中選擇所期望圖像來再現該所期望圖像。此外,人們還提出了這樣的攝像裝置:在該攝像裝置中,在觸控面板(touch?panel)上顯示出這些縮略圖像的列表,并且可通過按下所期望圖像的顯示區域來選擇和再現所期望圖像。
此處,將會考慮通過從例如在觸控面板上被顯示為列表的縮略圖像中選擇多個圖像來再現該多個圖像的情形。例如,當選擇多個圖像時,可以考慮重復地執行通過按下所要選擇的圖像來進行選擇操作的情形。然而,當要選擇許多個圖像時,選擇操作需要被重復執行的次數可能與所要選擇的圖像的數目一樣多。因此,存在著選擇操作變得復雜化這一問題。
因此,還曾提出了一種信息處理裝置,它可通過用觸控筆(touch?pen)的軌跡(閉合曲線)圍起與多個圖像對應的區域,例如從顯示于觸控面板上的那些縮略圖像中選出多個圖像(例如,參見JP-A-2007-66285(圖12))。
根據上述技術,通過用閉合曲線圍起與多個圖像對應的區域,可把位于該閉合曲線內的各圖像設定成被選狀態。因此,通過用觸控筆描畫軌跡線來執行選擇操作,就能夠選出所述的多個圖像。
然而,在許多便攜式電子裝置中,觸控面板的空間是有限的。因此,利用觸控筆來執行軌跡線描畫操作可能比較困難。因而,通過執行簡單的操作(例如單次觸摸操作)來同時選擇多個圖像,將會是比較方便的。
發明內容
因此,鑒于上述問題,本發明的目的是以一種簡單易行的方式來執行對操作標記的選擇操作。
本發明的實施例提供了一種電子裝置和一種顯示控制方法。該電子裝置包括:輸入/輸出單元,其在顯示面上顯示出用于執行操作輸入的多個操作標記,并檢測靠近或接觸所述顯示面的物體;選擇模式確定單元,其根據所述物體在所述顯示面上的檢測狀態,確定采用多選模式還是采用單選模式作為選擇模式,在所述多選模式中,把通過對所述物體的檢測而選擇的選擇目標設定成多個操作標記,而在所述單選模式中,把通過對所述物體的檢測而選擇的選擇目標設定成一個操作標記;選擇單元,其根據所確定的所述選擇模式和所述檢測狀態,從顯示于所述顯示面上的所述多個操作標記中選擇一個或多個操作標記;以及顯示控制單元,其把從顯示于所述顯示面上的所述多個操作標記中選擇的所述操作標記的顯示形式變為用于表明被選狀態的顯示形式,并在所述顯示面上顯示所選擇的所述操作標記。因此,根據所述物體在所述顯示面上的檢測狀態來確定選擇模式;根據所確定的選擇模式和所述檢測狀態,從顯示于所述顯示面上的所述多個操作標記中選擇一個或多個操作標記,把所選擇的所述操作標記的顯示形式變為用于表明被選狀態的顯示形式,并顯示所選擇的所述操作標記。
在上述實施例中,可配置成:所述輸入/輸出單元檢測靠近或接觸所述顯示面的所述物體在所述顯示面上的尺寸,所述選擇模式確定單元把所述物體在所述顯示面上的檢測尺寸與基準值相比較,并根據該比較的結果來確定所述選擇模式。在本例中,對靠近或接觸顯示面的物體在該顯示面上的尺寸進行檢測,把物體在顯示面上的檢測尺寸與基準值進行比較,并根據該比較的結果來確定選擇模式。
在上述實施例中,所述選擇模式確定單元可配置成:在檢測到有多個物體靠近或接觸所述顯示面的情形中,把各物體在所述顯示面上的檢測尺寸的相加值與基準值相比較,并根據該比較的結述果來確定所述選擇模式。在本例中,在檢測到有多個物體靠近或接觸顯示面的情形中,把各物體在顯示面上的檢測尺寸的相加值與基準值進行比較,并根據該比較的結果來確定選擇模式。
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