[發明專利]大行程光柵納米測量塊及其測量方法

無效

• 申請號: 201010125329.2
• 申請日: 2010-03-16
• 公開（公告）號: CN101793498A
• 公開（公告）日: 2010-08-04
• 發明（設計）人: 徐從裕
• 申請（專利權）人: 合肥工業大學
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產權代理有限公司 34112
• 代理人: 余成俊

1.大行程光柵納米測量塊，包括有DSP浮點運算芯片及其DSP處理電路，所述DSP處理電路包括有A/D輸入電路、I/O輸出電路、串口輸出電路，其特征在于：還包括有光柵調理電路、與光柵調理電路輸入端電連接的供外部光柵接入的光柵接口，外部光柵通過光柵接口將采集到的位移信號傳輸至光柵調理電路，所述光柵調理電路通過所述A/D輸入電路與所述DSP浮點運算芯片電連接，輸出調理后的外部光柵的正弦電壓、余弦電壓和零偏電壓信號至所述DSP浮點運算芯片；有串行通信接口，所述串行通信接口通過所述串口輸出電路與所述DSP浮點運算芯片電連接，所述DSP浮點運算芯片的測量數據通過串行通信接口輸出至外部的上位機；有顯示器通過I/O輸出電路與所述DSP浮點運算芯片電連接，所述DSP浮點運算芯片的測量數據通過I/O輸出電路在顯示器中顯示。

2.根據權利要求1所述的大行程光柵納米測量塊，其特征在于：還包括有引入外部電源的電源接口，所述電源接口分別與所述DSP浮點運算芯片、光柵調理電路電連接以供電。

3.根據權利要求1所述的大行程光柵納米測量塊，其特征在于：所述DSP浮點運算芯片型號為TMS320F28335。

4.根據權利要求1所述的大行程光柵納米測量塊，其特征在于：所述串行通信接口型號為RS232。

5.根據權利要求1所述的大行程光柵納米測量塊，其特征在于：所述顯示器為10位顯示屏。

6.基于權利要求1所述的大行程光柵納米測量塊的測量方法，其特征在于：外部光柵采集位移信號，將位移信號通過光柵接口傳輸至光柵調理電路，DSP浮點運算芯片在內部時鐘定時觸發下，通過所述A/D輸入電路采樣光柵調理電路調理后的外部光柵的正弦電壓、余弦電壓和零偏電壓信號，采樣得到的采樣值與所述外部光柵的實際位移值相對應；所述采樣值通過DSP浮點運算芯片處理后得到光柵細分增量值，對光柵細分增量值求算術和得到光柵納米測量值；所述光柵納米測量值通過DSP浮點運算芯片的I/O口傳輸至顯示器中顯示，并通過DSP浮點運算芯片的串行通信接口傳輸至外部上位機中。