[發明專利]基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置及方法

無效

• 申請號: 201010123941.6
• 申請日: 2010-03-15
• 公開（公告）號: CN101806917A
• 公開（公告）日: 2010-08-18
• 發明（設計）人: 翟國富;唐曉慶;王世成;王國濤;張龍;陳金豹;烏英嘎;陳蕊;張昆;胡彪;邢通
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01V1/00
• 分類號: G01V1/00;G01M7/02;G01N19/08
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

1.基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，它包括振動臺(6)，其特征是：它還包括智能控制模塊(1)、波形發生模塊(2)、幅度調節模塊、功率放大模塊(5)、加速度傳感器(17)和加速度反饋模塊(7)，所述幅度調節模塊由數/模轉換單元(3)和基準電壓調節單元(4)組成；所述基準電壓調節單元(4)的電壓信號輸出端與數/模轉換單元(3)的電壓信號輸入端連接；智能控制模塊(1)的控制信號輸出端與波形發生模塊(2)的控制信號輸入端連接；波形發生模塊(2)的波形信號輸出端與數/模轉換單元(3)的波形信號輸入端連接，所述數/模轉換單元(3)的信號輸出端與功率放大模塊(5)的信號輸入端連接；所述功率放大模塊(5)的驅動信號輸出端與振動臺(6)的驅動信號輸入端連接；加速度傳感器(17)設置在振動臺(6)上，加速度傳感器(17)的信號輸出端與加速度反饋模塊(7)的信號輸入端連接，所述加速度反饋模塊(7)的第一加速度信號輸出端與智能控制模塊(1)的加速度信號輸入端連接；智能控制模塊(1)電壓信號輸出端與基準電壓調節單元(4)的信號輸入端連接。

2.根據權利要求1所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于它還包括計算機接口電路(10)、工控機(11)、數據采集卡(12)、聲音調理電路(13)和聲音傳感器(19)，聲音傳感器(19)設置在振動臺(6)上，聲音調理電路(13)的信號輸入端與所述聲音傳感器(19)的信號輸出端連接；加速度反饋模塊(7)的第二加速度信號輸出端與數據采集卡(12)的第一數據信號輸入端連接；聲音信號調理電路(13)的第一信號輸出端與數據采集卡(12)的第二數據信號輸入端連接；數據采集卡(12)的數據信號輸入或輸出端與工控機(11)的數據信號輸出或輸入端連接；所述工控機(11)的控制信號輸入或輸出端通過計算機接口電路(10)與智能控制模塊(1)的控制信號輸出或輸入端連接。

3.根據權利要求2所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于它還包括顯示器(16)，所述顯示器(16)的顯示信號輸入端與工控機(11)的顯示信號輸出端連接。

4.根據權利要求3所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于它還包括揚聲器(14)和示波器(15)，所述揚聲器(14)的聲音信號輸入端與聲音信號調理電路(13)的聲音信號輸出端連接；示波器(15)的波形信號輸入端與聲音信號調理電路(13)的波形信號輸出端連接。

5.根據權利要求4所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于它還包括鍵盤(8)和顯示屏(9)，所述鍵盤(8)的鍵盤控制信號輸出端與智能控制模塊(1)的鍵盤控制信號輸入端連接，顯示屏(9)的顯示信號輸入端與智能控制模塊(1)的顯示信號輸出端連接。

6.根據權利要求5所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于數據采集卡(12)為雙通道的數據采集卡。

7.根據權利要求1、2、3、4、5或6所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于振動臺(6)的型號為M230或M230R。

8.根據權利要求1、2、3、4、5或6所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于智能控制模塊(1)是型號為STM32F103的32位ARM單片機。

9.根據權利要求1、2、3、4、5或6所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置，其特征在于波形發生模塊(2)是FPGA。

10.基于權利要求1所述的基于隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測裝置的隨機振動的密封電子元器件多余物的檢測方法，其特征在于它包括以下步驟：

步驟一、智能控制模塊(1)實時采集振動臺(6)反饋的加速度信號，并對采集到的信號進行A/D轉換，獲得轉換后的信號；

步驟二、將步驟一獲得的轉換后的信號進行功率譜估計，獲得信號功率譜；

步驟三、將步驟二獲得的信號功率譜與參考譜進行比較，并進行頻譜均衡，獲得均衡后的頻譜；

步驟四、調整頻率驅動信號幅度，將均衡后的功率譜進行相位隨機化，獲得相位隨機化后的功率譜；

步驟五、將步驟四獲得的相位隨機化后的功率譜進行逆傅里葉變換，獲得變換后結果；

步驟六、將步驟五獲得的變換后結果進行時域隨機化處理，獲得時域隨機化處理的結果；

步驟七、智能控制模塊(1)將步驟六獲得的結果送入數/模轉換單元(3)進行數/模轉換，獲得轉換后的結果；

步驟八、將步驟七獲得的轉換后的結果送入波形發生模塊(2)，波形發生模塊(2)根據所述轉換后的結果調整波形發生模塊的輸出波形，所述輸出波形經D/A轉換單元(3)和功率放大模塊(5)后，加載至振動臺(6)，并返回步驟一，完成隨機振動的密封電子元器件多余物自動檢測。